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鸿怡电子IC老化测试座的特点?

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浏览:- 发布日期:2018-09-19 18:00:26【

首先,我们来说下为什么要进行IC老化试验?

半导体封装厂商对IC进行老化筛选试验的目的是为了剔除易发生“早期失效”的元器件,使批量芯片提前进入失效率稳定的工作期,从而提高整机可靠性。
对半导体封装厂商来说,筛选是提高IC可靠性的重要手段,经过筛选的芯片等级可以提高,可以应用到可靠性要求更高的场合;对整机单位来说,二次筛选是鉴别芯片水平,提高整机可靠性的非常有效的手段。在航空航天系统就非常重视芯片的二次筛选手段的建立和实施,并要求具备分析能力。 


鸿怡电子可提供各类IC的老化测试socket,可用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,配老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选的连接之用。


IC老化测试座具有哪些性能及特点? 

 
1、IC老化座有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便。 
 
2、高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高。 
 
3、IC老化座采用双扣式结构,操作方便。 
 
4、可根据用户要求定做各种阵列的socket。 
 
5、IC老化座用途:集成电路应用功能验证测试。 
 
6、上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位。 
 
7、探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球。 
 
8、IC老化座测试频率可达9.3GHz。 

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