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ddr78/96/200/254/315ball内存颗粒测试-鸿怡电子ddr芯片测试夹具治具
针对DDR全系列多规格颗粒3200MHz高频测试、单PIN1A大电流负载、高密度引脚稳定接触、多规格兼容量产核心痛点,鸿怡电子推出全系列DDRBall内存颗粒专用测试治具,全覆盖78/96/200/254/315Ball五大主流规格,原生支持3200MHz高频信号测试、单引脚1A大电流稳定承载,适配研发校准、高温老化、量产分选全流程,已批量应用于国内头部内存IC设计、封测、模组厂商。
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