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: 定制QFN56pin-0.4mm高频芯片测试座

QFN56pin芯片测试座参数：本体尺寸：7*7mm引脚中心间距：0.4mm芯片测试座结构:旋钮翻盖式Socket壳体：合金+PEEK探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACfor1minute绝缘阻抗：1000mΩ500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+125°C机械寿命：大于15000次(机械测试)

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