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: 芯片手测、ATE、老化测试:芯片测试座的三种使用场景的不同之处

手测、ATE、老化是三种被"取放者、设备、时长、温度"完整定义的场景：手动测试座为人优化，ATE测试座为机器人和百万次循环优化，老化测试座为时间和温度优化。结构特征——翻盖也好、opentop也好——只是实现手段，回答不了"这个座属于哪类用途"。选座先问四个问题，让场景归位，再让结构为规格服务；反过来先看结构下结论，三种场景里至少有两种会出问题。

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