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: 定制DFN8-0.4-1.6x1.6探针老化测试座socket

DFN8pin芯片测试座参数：本体尺寸：1.6*1.6mm中心引脚间距：0.0.4mmSocket壳体：PEI测试座结构：翻盖式接触PIN针：双头镀金探针最大电流：1A使用温度：-45°C-+125°C老化寿命：大于3000小时销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com

: 定制DFN16探针HTOL老化座夹具socket

DFN16pin芯片测试座参数：适配芯片尺寸：5.0x3.0mm中心引脚间距：0.5mmSocket壳体：PEI测试座结构：翻盖式接触方式：pogoPIN频率参数：≤500Mhz最大电流：1A温度范围：-45°C-+125°C老化寿命：大于3000小时销售工程师：黄小二13622364332，huang@hydz999.com

: 定制BGA/eMMC153存储IC测试座socket

eMMC153测试Socket（BGA153测试座）是专为eMMC153封装存储芯片设计的专用测试连接器，主要用于芯片量产测试、程序烧录、高低温老化、性能检测、故障排查等场景，适配移动端、嵌入式设备通用eMMC存储颗粒。该测试座采用标准BGA封装适配结构，0.5mm精密引脚间距，具备低阻抗、高稳定性、耐高温、高寿命的特性，可满足工业级、消费级芯片的全工况测试需求，以下为完整核心参数说明。EMMC153存储芯片测试座参数:最高测试速率：6Ghz(仅UFS高速测试)，HS400/HS200中心引脚间距：0.5mm适配芯片尺寸：11.5*13.5mm接触阻抗：100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流：1Amax/Pin.工作温度：-55°C~+155°C

: 定制DFN14-3.96探针测试座socket

DFN14pin芯片测试座参数：本体尺寸：30x30mm中心引脚间距：3.96mmSocket壳体：合金+PEEK测试座结构：翻盖式探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACfor1minute绝缘阻抗：1000mΩ500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+125°C机械寿命：大于15000次(机械测试)

: 定制QFN32-0.5(5x5)烧录座open top

QFN32pin芯片测试座参数：适配IC尺寸：5*5*0.85mm间距：0.5mm结构：OPENTOPSocket壳体：PEI+PEEK频率：≤2.4Ghz最大电流：1A使用温度：-45°C-+125°C机械寿命：大于80000次(机械测试)销售工程师：黄小二13622364332(VX同步)邮箱：huang@hydz999.com

: 定制DFN10-2x3开尔文测试座Kelvin socket

DFN10pin芯片测试座参数：本体尺寸：2*3mm中心引脚间距：0.4mmSocket壳体：合金+PEEK测试座结构：双扣/手自一体探针材料：磷铜探针镀层：镍金操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比接触阻抗：≤100mΩmax耐压测试：700VACfor1minute绝缘阻抗：1000mΩ500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+155°C机械寿命：大于80000次(机械测试)

: 定制CSOP6-4.9电源管理芯片测试座夹具socket

定制CSOP6pin芯片测试座参数：绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+150°C使用寿命:大于15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:翻盖式测试座材料:合金+PEEK销售工程师：黄小二：13622364332（VX同步）邮箱：huang@hydz999.com

: 定制陶瓷封装CSOP16-1.27测试座socket

定制CSOP16pin芯片测试座参数：设计特点：采用凸条仅压芯片管脚平整部分，保护管脚、塑封本体绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+150°C使用寿命:大于15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:翻盖式测试座材料:合金+PEEK销售工程师：黄小二：13622364332（VX同步）邮箱：huang@hydz999.com

: 定制CSOP20-1.27陶封芯片测试座socket

定制CSOP20pin芯片测试座参数：设计特点：采用凸条仅压芯片管脚平整部分，保护管脚、塑封本体绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+150°C使用寿命:大于15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:翻盖式测试座材料:合金+PEEK销售工程师：黄小二：13622364332（VX同步）邮箱：huang@hydz999.com

: 定制陶装CSOP38探针FT测试座socket

定制CSOP38pin-0.5mm芯片测试座参数：绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+155°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:旋钮翻盖式测试座材料:合金+PEEK销售工程师：黄小二13622364332（VX同步）

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