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定制QFN64pin-0.5mm 芯片探针测试座
QFN64pin-
芯片测试座
参数:本体尺寸:9*9mm中心引脚间距:0.5mmSocket壳体:合金+PEEK探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-40°C-+155°C机械寿命:大于80000次(机械测试)
定制QFN72-0.4mm 合金翻盖
芯片测试座
封装适配:QFN72pin,引脚间距0.4mm 工作温度-45℃~+125℃(最高可支持150℃) 接触电阻初始≤30mΩ(DC1A),老化后≤50mΩ 绝缘电阻≥100MΩ(相邻引脚间)高绝缘性材料,避免高温下漏电、串扰 耐压值:AC500VRMS/1min满足电气安全测试要求 机械寿命:≥100,000次插拔(优质款≥15,000次)探针结构耐用,适合批量老化测试 单针正向力:20g~30g/针平衡接触可靠性与芯片受力,避免压伤芯片焊盘 探针材质:铍铜/磷铜镀金(硬金厚度≥0.8μm)高耐磨、抗高温氧化,适配长期老化 主体材质:PEEK/PEI/Torlon4203高温工程塑料耐高温、低析出、抗变形,避免高温下污染芯片
定制QFN73-0.5mm 合金翻盖
芯片测试座
封装适配:QFN73pin,引脚间距0.5mm 工作温度-45℃~+125℃(最高可支持150℃) 接触电阻初始≤30mΩ(DC1A),老化后≤50mΩ 绝缘电阻≥100MΩ(相邻引脚间)高绝缘性材料,避免高温下漏电、串扰 耐压值:AC500VRMS/1min满足电气安全测试要求 机械寿命:≥100,000次插拔(优质款≥15,000次)探针结构耐用,适合批量老化测试 单针正向力:20g~30g/针平衡接触可靠性与芯片受力,避免压伤芯片焊盘 探针材质:铍铜/磷铜镀金(硬金厚度≥0.8μm)高耐磨、抗高温氧化,适配长期老化 主体材质:PEEK/PEI/Torlon4203高温工程塑料耐高温、低析出、抗变形,避免高温下污染芯片
定制QFN100pin-0.4mm 芯片探针测试座
QFN100pin-
芯片测试座
参数:本体尺寸:12.0*12.0mm中心引脚间距:0.4mmSocket壳体:合金+PEEK探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-40°C-+155°C机械寿命:大于80000次(机械测试)
QFP100-0.4塑胶翻盖弹片焊接老化座
JFPpin
芯片测试座
参数:Socket壳体:PEI探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-40°C-+85°C机械寿命:20000次(机械测试)
JFP16-1.27塑胶翻盖弹片焊接老化座
JFPpin
芯片测试座
参数:Socket壳体:PEI探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-40°C-+85°C机械寿命:20000次(机械测试)
定制BGA337-0.8mm
芯片测试座
SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:大于25,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX(根据下针数量)9、测试座结构:旋钮翻盖式10、测试座材料:合金+PEEK11、中心引脚间距:0.8mm12、适配芯片尺寸:16*16mm联系工程师:电话微信同号:13267043095(高工)
定制SOP6pin-1.27mm 合金双扣旋钮
芯片测试座
socket
定制SOP6pin
芯片测试座
参数:绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+175°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX
定制SOP6pin-2.54mm
芯片测试座
socket
定制SOP6pin-2.54mm
芯片测试座
参数:绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+175°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX
定制QFN40-0.5mm(5x7x1)
芯片测试座
QFN40pin
芯片测试座
参数:本体尺寸:5.0*7.0mm引脚中心间距:0.5mm
芯片测试座
结构:翻盖式Socket壳体:PPS+PEEK探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125°C机械寿命:大于15000次(机械测试)
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