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: 定制sop8pin-1.27mm芯片测试座

定制SOP8pin-1.27mm芯片测试座参数：绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-45°C~+125°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:翻盖式测试座材料:合金+PEEK

: 定制SOP8pin-1.9mm芯片测试座

定制SOP8pin-1.9mm芯片测试座参数：绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-45°C~+125°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:翻盖式测试座材料:PEI+PEEK

: 定制WLCSP6pin-0.4mm芯片测试座

1.微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路2.温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子/工业设备等严苛环境3.高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行.

: 定制WLCSP5pin-0.5mm芯片测试座

1.微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路2.温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子/工业设备等严苛环境3.高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行.

: 定制WLCS18pin-0.4mm晶圆级芯片测试座

1.微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路2.温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子/工业设备等严苛环境3.高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行.

: 定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座

UFS153pin存储芯片测试座参数：实际下针87pin绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-55°C~+125°C最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试)，HS400/HS200操作力:15~30g/PinMAX

: 定制QFP128pin-0.8mm芯片测试座

QFP128pin-0.8mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体：合金+PEEKSocket结构：旋钮双扣式探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACforlminute绝缘阻抗：1000m500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+125*C机械寿命：大于15000次(机械测试)

: 定制QFP100pin-0.5mm芯片测试座

QFP100pin-0.5mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体：合金+PEEKSocket结构：旋钮翻盖式探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACforlminute绝缘阻抗：1000m500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+125*C机械寿命：大于15000次(机械测试)

: 定制QFP92pin-0.65mm芯片测试座

QFP92pin-0.65mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体：合金+PEEKSocket结构：旋钮双扣式探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACforlminute绝缘阻抗：1000m500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+125*C机械寿命：大于15000次(机械测试)

: 定制QFP64pin-0.5mm芯片测试座

QFP64pin-0.5mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体：合金+PEEKSocket结构：旋钮翻盖式探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACforlminute绝缘阻抗：1000m500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+125*C机械寿命：大于15000次(机械测试)

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