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: 芯片可靠性测试：htol与itc独立温控，鸿怡电子芯片老化座工程师带您了解两种完全不同的老化测试方式

从HTOL的“大锅饭”到ITC的“私厨定制”，独立温控测试带来的不仅是温度精度的数量级提升，更是对芯片失效模型认知的纠偏。围绕鸿怡电子LGA72pinITC温控老化座展开的PT100四线制测温与12V功率驱动设计，证明了高可靠性源于每一个毫欧和每一个毫安级的精准拿捏。在汽车电子与AI算力芯片的可靠性征程中，ITC技术正在重写测试标准的底层代码。

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