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<i style='color:red'>定制</i>QFP128pin-0.8mm芯片测试座

定制QFP128pin-0.8mm芯片测试座

QFP128pin-0.8mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体:合金+PEEKSocket结构:旋钮双扣式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125*C机械寿命:大于15000次(机械测试)
<i style='color:red'>定制</i>QFP100pin-0.5mm芯片测试座

定制QFP100pin-0.5mm芯片测试座

QFP100pin-0.5mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体:合金+PEEKSocket结构:旋钮翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125*C机械寿命:大于15000次(机械测试)
<i style='color:red'>定制</i>QFP92pin-0.65mm芯片测试座

定制QFP92pin-0.65mm芯片测试座

QFP92pin-0.65mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体:合金+PEEKSocket结构:旋钮双扣式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125*C机械寿命:大于15000次(机械测试)
<i style='color:red'>定制</i>QFP64pin-0.5mm芯片老化测试座_带散热

定制QFP64pin-0.5mm芯片老化测试座_带散热

QFP64pin-0.5mm芯片老化测试座产品特点及规格Socket本体:合金+PEEKSocket结构:翻盖式-带散热探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:1A使用温度:-55°C-+175*C机械寿命:大于15000次(机械测试)
<i style='color:red'>定制</i>QFP64pin-0.5mm芯片测试座

定制QFP64pin-0.5mm芯片测试座

QFP64pin-0.5mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体:合金+PEEKSocket结构:旋钮翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125*C机械寿命:大于15000次(机械测试)
<i style='color:red'>定制</i>QFP52pin-0.65mm芯片测试座

定制QFP52pin-0.65mm芯片测试座

QFP52pin-0.65mm芯片测试座产品特点及规格Socket本体:合金+PEEKSocket结构:旋钮翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125*C机械寿命:大于15000次(机械测试)
<i style='color:red'>定制</i>ESOP8pin-1.27mm芯片老化座

定制ESOP8pin-1.27mm芯片老化座

定制ESOP8pin-1.27mm芯片老化测试座参数:绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-45°C~+125°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX
<i style='color:red'>定制</i>DFN20pin-0.5mm芯片测试座

定制DFN20pin-0.5mm芯片测试座

DFN20pin芯片测试座参数:本体尺寸:5.5*3.5mm中心引脚间距:0.5mmSocket壳体:合金+PEEK测试座结构:翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125°C机械寿命:大于15000次(机械测试)
<i style='color:red'>定制</i>DFN14pin-0.65mm芯片测试座

定制DFN14pin-0.65mm芯片测试座

DFN14pin芯片测试座参数:本体尺寸:4.5*3mm中心引脚间距:0.65mmSocket壳体:合金+PEEK测试座结构:翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125°C机械寿命:大于15000次(机械测试)
<i style='color:red'>定制</i>DFN12pin-0.4mm芯片测试座

定制DFN12pin-0.4mm芯片测试座

DFN12pin芯片测试座参数:本体尺寸:1.6*1.6mm中心引脚间距:0.4mmSocket壳体:PEI+PEEK测试座结构:翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACfor1minute绝缘阻抗:1000mΩ500VDC最大电流:1A使用温度:-45°C-+125°C机械寿命:大于15000次(机械测试)