您当前的位置： 首页 > 产品频道 > LCC/CLCC封装系列 > 定制LCC48-0.8mm一拖九震动测试座

LCC光模块芯片老化测试socket

定制LCC48封装芯片测试夹具_

定制LCC芯片插座夹具socket

一拖九工位芯片老化座

定制LCC48-0.8mm一拖九震动测试座

支持频率：≤200Mhz

温度范围：-45℃-125℃

操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大

额定电流：单PIN1A max

接触电阻：≤50毫欧

绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上

机械寿命：>1.5万次

中心引脚间距:0.8mm

适配芯片尺寸:11*11mm

服务热线： 13631538587

在线咨询

鸿怡电子生产的LCC48-0.8 11x11x1.85mm一拖九震动测试座产品简介

PLCC、CLCC、LCC区别：

PLCC与CLCC的区别:以前仅在于前者用塑料,后者用陶瓷。 LCC是指无引脚封装，有的也称QFN。适用芯片、模块封装。

LCC48-0.8 mm芯片规格参数

LCC48芯片测试座

LCC48-0.8 mm 芯片老化测试座图纸

芯片夹具测试座

LCC48-0.8mm 芯片老化测试座产品展示

芯片测试插座
CLCC48pin芯片测试socket
CLCC48pin芯片测试夹具
CLCC芯片测试座
芯片测试夹具
芯片测试座

采购：定制LCC48-0.8mm一拖九震动测试座

热品推荐 / Hot product

: 定制模块18pin-1.1mm测试座

: 定制QFP128-0.4mm芯片测试座

: 定制QFN9pin-0.5mm芯片测试座

定制LCC48-0.8mm一拖九震动测试座

热品推荐 / Hot product

定制模块18pin-1.1mm测试座

定制QFP128-0.4mm芯片测试座

定制QFN9pin-0.5mm芯片测试座

鸿怡电子产品中心

非标定制测试座

现货标准品

QFN/DFN封装系列

BGA封装系列

QFP/OTQ封装系列

SOP/OTS封装系列

TO封装系列

LGA封装系列

WLCSP封装系列

LCC/CLCC封装系列

EMMC/EMCP/UFS

SOT封装系列

LPDDR-GDDR-DDR系列

SMA/SMB/SMD系列

SSD-flash存储系列

有源/无源晶振系列

电阻电容电感系列

模块测试座

IGBT和新能源系列

军品/科研/航空

IC/芯片老化板

连接器测试微针模组

推荐资讯

深圳市鸿怡电子有限公司-2026年春节放假通知

核心算力载体:人工智能AI芯片测试基石-鸿怡电子高可靠性芯片测试座

数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具

鸿怡电子IC测试座:数字电路测试、模拟电路测试和数模混合电路测试的特性

芯片宽温测试座:解决芯片在不同温度下的可靠性和稳定性测试

电源管理芯片:LDO-DC/AC-BMS-驱动-开关电源等芯片测试-适配测试座socket案例

处理器芯片封装测试:特性-测试类型-适配处理器芯片测试座socket

液冷赋能下AI芯片/模块老化测试的技术突破与适配测试治具实践

电流传感器测试:霍尔效应线性电流传感器特性-鸿怡传感器测试适配测试座socket

电源模块测试:五款核心电源模块特性及老化测试的必要性

深圳市鸿怡电子有限公司0755-83587595