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芯片测试从来不是"插上电跑个程序"那么简单——从CP到FT,从老化到烧录,每一道关卡都对应着明确的失效模型与硬件要求。而测试座作为芯片与测试系统之间的"最后一公里",其选型逻辑可以浓缩成一句话:封装参数定门槛,电气指标定精度,温度材料定可靠...