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» 搜索:测试座
定制翻盖旋钮 FBGA689封装
测试座
测试夹具 测试socket 老化座 老炼夹具
BGA689测试座测试socket测试夹具
BGA689封装,1.0间距,尺寸31*31mm
老化温度:-45~135℃ @1000小时
电压无要求
电流1A以内
频率300MHZ以内
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定制翻盖旋钮 BGA676封装
测试座
老化座 老炼夹具 测试socket
BGA676封装测试座老化座老炼夹具测试socket
BGA676封装,1.0间距,27*27尺寸
测试信号频率100MHZ
功率8W
电流8A
温度常温
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IC51-0444-467
测试座
适配 Adapter插座 转接座 FPT-p0.80-44P
Adapter插座
适配进口座型号:IC51-0444-467(FPT-P0.80-44P)
壳体材质:黑电木
插针材质:镀镍金磷铜
各种老化座Adapter插座定制
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定制CSOP52-0.5陶瓷封装器件
测试座
老化座 夹具 治具
定制CSOP52-0.5 6.4x12.2合金翻盖测试座
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电...
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定制 陶瓷封装 光电探测器 芯片
测试座
测试夹具 测试socket 治具
产品简介:24PIN陶瓷封装 光电探测器 芯片 测试座
适配封装规格:24pin,1.0mm间距,外形尺寸15mm*15mm
电流:1A以内
温度:常温状态下使用
座子顶部需要天窗透光给芯片感光
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定制 PCB模块金手指/焊盘/测试点
测试座
socket 夹具 治具
产品简介:PCB模块金手指焊盘测试点测试座
适配规格:17个pin点,外形尺寸29*29mm ,间距1.54mm
性能要求:导通即可,无特殊高速信号要求
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BGA77封装器件
测试座
老化座 老炼夹具 治具 socket DC电源管理IC
产品简介:BGA77封装器件老化座老炼夹具
BGA77老化座参数
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:Torlon;外壳材质:PEI;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni;
4、单PIN额定电压...
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邮票孔模块 有无屏蔽罩兼容 测试socket
测试座
治具 夹具
邮票孔模块测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN...
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全新UFS153转USB3.0
测试座
SM3350主控153芯片烧录测试老化SOCKET
产品名称:UFS153转USB3.0测试座
适配芯片规格:ufs153ball 间距0.5mm 尺寸11.5*13mm
测试座用途: 对UFS芯片进行读写,测试,烧录
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定制邮票孔模块 探针
测试座
夹具 治具 烧录socket
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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邮票孔模块
测试座
夹具 治具 工装测试架
产品简介:
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,...
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定制QFN16合金探针
测试座
高功耗散热+铜散热测试夹具socket
简介:定制QFN16封装测试socket,采用芯片顶部和底部采用铜块传热导热测试设计, 适配IC规格:QFN封装,16PIN,间距0.5mm,尺寸3*3*0.75 特点:黄铜散热导热设计,个性化定制,座子底部避空1.5mm可以放电子元器件。...
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定制 QFN100 烧录座
测试座
测试夹具 老化座 测试socket 0.4pitch
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压...
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QFN48-0.35(5x5)烧录座 读写 夹具
测试座
老化 老炼治具 socket
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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MCU 测试socket QFN64烧录座 读写夹具
测试座
老化座老炼夹具9*9
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:1A
使用温度:-40℃~135℃@1000小...
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定制 QFN64 射频芯片
测试座
加接地铜块散热 测试夹具 老化座 socket
性能参数:
工作频率:8GHZ@1DB;
工作温度:-55℃~155℃;
单PIN电流:1A;
功率:3W;
接触阻抗:≤100mΩ
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定制 邮票孔WiFi模块
测试座
烧录座 48PIN PCB模块测试 夹具 socket
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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定制 DFN6pin 大电流
测试座
测试 夹具 老化座 pogoPIN
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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定制 LGA30封装 射频芯片
测试座
测试夹具 10G高频socket
产品简介:
应用:射频频芯片测试
性能要求:频率最高10GHZ,,插损小于1db, 驻波小于-15db, 电流630mA。
更多 +
定制 CICS13A 传感器 探针
测试座
socket 夹具 治具 测试工装
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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