下压式IC老化座_NP506-020-045-SC-G_QFN20-0.4芯片测试座

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浏览：- 发布日期：2021-10-18 14:42:10【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产下压式IC老化座_NP506-020-045-SC-G_QFN20-0.4芯片测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。

QFN20芯片老化座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN20的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN20 引脚间距0.4mm

测试座:QFN20-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-20-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:20

芯片尺寸:3*3

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