QFN32-0.4CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写座_QFN老化测试座

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浏览：- 发布日期：2021-10-09 15:53:40【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN32-0.4CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写座_QFN老化测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等

QFN32-0.4CPO1GT老化测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN32引脚间距0.4mm

测试座:QFN32-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-32-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:32

芯片尺寸:5*5

QFN适配器烧写测试座

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产品性能
材质
（1）绝缘体 PEI、PPS
（2）弹片, 铍铜Be Cu Gold platin...