- [行业资讯]您一定要看的，关于IC老化试验的干货2020年05月28日 14:40
- 芯片在封装完毕后，可能存在潜在缺陷，这些会导致芯片性能不稳定或者功能上存在潜在缺陷，如果这些存在潜在缺陷的芯片被用在关键设备上，有可能发生故障，造成用户财产损失或者生命危险。而老化试验的目的就是在一定时间内，把芯片置于一定的温度下，再施于特定的电压，加速芯片老化，使芯片可靠性提前度过早期失效期，直接到达偶然失效期（故障偶发期），保证了交到顾客手中的芯片工作性能的稳定性和可靠性。 而在实际生产中，老化试验需要用到哪些物料呢？试验的生产周期又是多久？老化车间又是如何工作以及我们的
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- [鸿怡动态]芯片老化座助力客户完成芯片老化测试工作2020年03月12日 17:14
- 随着电子产品更新换代速度的加快，消费者对产品的挑剔不仅仅局限于产品的外观，对电子产品内在的质量、稳定性也有了诸多要求。而芯片在电子产品中如同心脏一般起着至关重要的作用。一颗芯的好坏，直接影响着电子产品的使用寿命。所以，现在的芯片在封装好出厂前，芯片厂商都还会再进行严密的温度加速老化和HAST的温湿度老化测试。 老化HTOL【High Temperature Operating Life】，就是在高温下加速芯片老化，然后估算芯片寿命。还有HAST【Highly Accelera
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- [鸿怡动态]鸿怡电子--致力于test socket市场2019年06月05日 17:52
- 在Test Socket市场上，众多韩国以及国外的企业竞争十分激烈。然而在如此激烈的竞争中，却有一家企业在ICSocket领域独占鳌头。 随着存储芯片逐渐向微型发展，将锡球贴在芯片的下端后，主要采用与电路板（PCB）接合的球栅阵列封装（BGA）技术，这种情况下ANDKSocket更为合适。鸿怡电子研发了两款弹片结构的BGA老化测试socket,一种为单面弹，采用传统焊接方式与PCB板固定，另一种为双面弹，采用我司创新的锁螺丝方式与PCB板固定。客户可根据实际情况自由选择。与
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- [行业资讯]SK海力士宣布将停产36层和48层3D NAND2019年05月07日 17:31
- SK海力士对外宣布将停止生产成本相对高的3D NAND初期产品－2代（36层）、3代（48层），并提高72层的生产比重。下半年则计划利用96层4D NAND产品刺激SSD、移动市场。青州新M15工厂考量目前的需求量，量产速度将比原计划慢，预计SK海力士今年的NAND晶圆投入量会比去年减少10％以上。 SK海力士对此表示，在存储器需求不确定、期待需求恢复的市场中，将集中精力在降低成本和确保品质。 未来针对DRAM领域，SK海力士将着重转换细微工程。首先将逐渐扩大第一代10纳米
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- [鸿怡动态]什么是烧录座？2019年04月09日 15:02
- 深圳市鸿怡电子有限公司自2001年开始生产销售各类的IC测试座、IC老化座和IC烧录座。经常会遇到一些不同客户有关烧录座上的一些问题. 今天跟大家一起共同探讨有关烧录的相关事宜。首先讲一下，什么是烧录？烧录就是程序员写好的程序，把程序导入到目标IC上面，实现一个完整的动作。 烧录的过程我们也叫做编程，也有地方叫做 ic copy。当然，我们更习惯称之为烧录。 烧录座我们也叫编程座。配合烧录座工作的机器我们称之为烧录器，因为台湾的半导体产业发展的早，到大陆后，客户之所以叫它为
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- [行业资讯]SK海力士推出创新的ZNS SSD用于数据存储2019年04月01日 18:10
- SK海力士推出创新的ZNS SSD用于数据存储 最近，在位于加利福尼亚州圣何塞的OpenCompute Project（OCP）中，SK海力士展示了用于数据中心的Zoned Namedspaces（ZNS）SSD。 SK海力士指出，与之前的SSD产品相比，新款ZNS SSD的速度和可靠性提高了30％，使用寿命更长。值得注意的是，它还具有数据分类存储功能。 普通SSD通常在存储音乐，照片和视频时不考虑数据类型。由于海力士独立开发的ZNS数据管理技术，新的ZNS SSD可
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- [行业资讯]SSD主控芯片CP测试你真的知道么？2019年03月27日 16:49
- 在芯片测试领域，主要分为两部分测试，业界通俗的叫法是CP和FT，我们今天主要谈谈CP的问题。什么是CP测试？CP是（ChipProbe）是缩写，指的是芯片在foundry流片回来后，需要在wafer level 进行简单的DC和功能测试，主要是通过探针卡的探针扎到芯片PAD上，然后通过ATE输入激励信号，测试芯片的输出响应。 CP测试的工具如下： 大多数情况下，特别是在国内，我们目前在CP测试上选用的探针都还是悬臂针(也有叫环氧针的，因为针是用环氧树脂固定的缘故)。这种
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- [行业资讯]Flash芯片的分类2019年03月19日 18:28
- Flash又分NAND Flash和NOR Flash，NOR型存储内容以编码为主，其功能多与运算相关；NAND型主要功能是存储资料，如数码相机中所用的记忆卡。 现在大部分的SSD都是用来存储不易丢失的资料，所以SSD存储单元会选择NAND Flash芯片。这里我们讲的就是SSD中的NAND Flash芯片。针对flash芯片的测试，鸿怡电子可以提供完整的flash芯片测试治具及其解决方案。 （1）Nor Flash：主要用来执行片上程序 优点：具有很好的读写性能和随机访问性
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- [鸿怡动态]电源IC老化座测试座的清洁和保养2019年03月12日 18:16
- 深圳市鸿怡电子有限公司，主要生产销售各类芯片的老化座、测试座。如各类电源IC、射频IC测试座等。客户在进行芯片测试的时候，电源IC老化座测试座使用时间长了之后会有一些灰尘和污垢，从而影响客户的测试和老化。那么电源IC老化测试座的如何清理和保养？鸿怡电子的小编告诉您：1、首先，把电源IC老化测试座翻盖打开，接着倒放在超声波清洁器内。2、然后，在超声波清洁器内倒入适量的酒精，酒精的份量以把整个座头浸没为佳，并打开超声波清洁器开关，开始进行清洗工作，大概十分钟之后（如果老化测试座比
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- [鸿怡动态]关于BGA芯片级封装的老化测试座2019年02月20日 14:46
- 老化炉工作于各种不同的温度下，典型的最大老化温度为150摄氏度，IC老化座的寿命需要满足在高温下的总时间可能超过1000小时。由于老化期间加载了接触件，弹性元件经过了应力松弛。其中一种最佳弹性合金为CDA-172000，它是一种铍青铜合金。这种材料由于其兼具有可成型性、模量大、屈服强度高和应力松驰性能好，已经广泛用于IC老化插座。 一种冲压成型的接触件(我们称之为弹片）由铍青铜制成，用于0.75 mm节距的插座示于图5。这是一种具备现代工艺水平的金属成型的零件，片状材料的厚度
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- [行业资讯]主控芯片AS2258支持最新製程3D NAND2019年02月19日 16:06
- 随着大数据需求爆发，电子产品的发展与技术进步，影片、小视频、音乐、照片等各种形式的数据量持续爆增，持续推动数据存储市场需求不断增长。 SSD所具备大容量、高稳定、高速度、低功耗等优势，为消费者带来更加流畅的用户体验，并推动SSD市场规模不断增长，2018年全球SSD市场规模已超过2亿台，未来将持续扩大在市场上的应用。 SSD大容量的关键在于NAND Flash技术的发展。随着原厂技术的进步，3D NAND制程良率与产能不断提升，现已全面进入3D NAND时代 2019年将逐步
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- [鸿怡动态]介绍一款新的WLCSP封装测试座2019年01月14日 18:04
- ANDK测试座是中国较早的测试座生产商，生产IC测试座、老化座等。在智能设备快速发展的时代，其中使用的集成芯片受到越来越多的关注。 WLCSP晶圆级测试座用于测试一系列集成芯片，如蓝牙，电源管理和数字显示控制器。在客户的帮助下，ANDK测试座成功开发并测试了晶圆级芯片测试头。 ANDK测试台的半导体测试系列具有以下优点：1.独特的设计，确保信号路径最短，接触阻抗低，稳定，载流量大，使用寿命约10万次;2.自主研发的peek +陶瓷塑料原料，高效耐磨，耐高温，高硬度的板材，从而
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- [行业资讯]ePOP NAND flash测试socket即将来临2018年12月03日 17:46
- 鸿怡电子适用于ePOP芯片的IC老化座、测试socket即将来临。智能手表等智能可穿戴设备由于空间狭小，对组件的面积和高度有着严格的限制。 ePOP内存芯片的出现无疑是雪中送炭。ePoP 是一款高度集成的 JEDEC 标准组件，在一个小巧的封装内整合了 eMMC 和 LPDRAM。ePoP 直接安装到兼容主机 CPU 的上部，这可以有效节省电路板空间，并确保最佳性能，得益于内存邻近主机 CPU。它非常适合可穿戴设备等空间非常受限的系统。 中国著名的嵌入式存储器供应商Weiwe
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