SOT89/353/363/323/223/263等系列老化测试座 Support IGBT MOSFET and Other Function IC: SOT系列老化座:SOT(Small Outline Transistor)类芯片是一种封装形式,常用于集成电路芯片。它是一种小型封装,具有较高的密度和较小的尺寸。SOT类芯片有多种尺寸和引脚数,常见的有SOT-23、SOT-89、SOT-223等。 SOT类芯片的老化座用于模拟芯片在长时间使用过程中的老化情况。它可以通过
eMMC(Embedded Multi Media Card)是MMC协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。eMMC在封装中集成了一个控制器,提供标准接口并管理闪存,使得手机厂商就能专注于产品开发的其它部分,并缩短向市场推出产品的时间。 eMMC芯片一般为1.8V和3.3V;目前鸿怡电子拥有齐全的 eMMC系列老化测试座,烧录以及功能性测试座,包括eMMC153/221/529/254/162/186甚至UFS2.1以上所有封装的测试座。 SPECI
芯片LTOL测试:了解其原理及重要性 根据鸿怡电子芯片测试座工程师介绍:芯片LTOL(Lifetime or Temperature Operating Life)测试是一项重要的芯片可靠性测试方法,它用于评估芯片在长时间使用或极端温度环境下运行的可靠性。通过进行LTOL测试,工程师可以确定芯片在实际应用中的寿命和性能表现,从而提前发现潜在的问题,保证芯片的可靠运行。 1、我们来了解一下LTOL测试的原理。LTOL测试基于芯片在高温环境下的应力老化现象。在测试中,芯片会