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QFN32-0.5翻盖弹片
芯片测试
座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN32引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN32-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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QFN32翻盖弹片双层转板IC烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN32引脚间距0.5mm
测 试 座:QFN32翻盖弹片烧录座
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QFN24-0.5 双层板
芯片测试
座
产品用途:编程座、测试座,对QFN24的IC芯片进行烧写、测试 适用封装:QFN24引脚间距0.5mm 测 试 座:QFN24-0.5 特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN16-0.5翻盖弹片
芯片测试
座
产品用途:编程座、测试座,对QFN16的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN16 引脚间距0.5mm
测试座:QFN16-0.5
特点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFP48下压弹片芯片老化座 QFP测试座
产品用途: 编程座、测试座,对QFP48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFP48、PQFP48、TQFP48,引脚间距0.5mm
测 试 座: QFT-48-0.5-06
特 点: 四周按芯片顺序引出所有引脚
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eMMC153/169下压弹片转USB接口
芯片测试
座
1. 采用弹片下压转SD接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容153PIN和169PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容IC厚...
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eMCP162/186下压弹片转USB接口IC测试座
1. 采用弹片下压转USB接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容IC厚...
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eMMC/eMCP四合一金属探针座转USB3.0接口
1. 采用翻盖探针转USB3.0接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容eMMC100、eMMC153/169、eMCP162/186、eMCP221 .
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定...
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BGA24翻盖弹片转DIP8
芯片测试
座
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eMMC153/169通用socket+转接板芯片分析座—新结构
1、eMMC 153 /169 ball ptich:0.5
2、频率F:1600MHZ
3、外形尺寸:25mm×25mm×4mm
4、避空高度:2mm(用于避空集成电路周围的元器件)
3、适用于:sandisk、三星等各类eMMC颗粒
PCBA...
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三星eMMC黄点转DIP48探针
芯片测试
座
1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 准确定位测试焊盘及锡球.
4. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
5. 可调整压力,可以兼容IC厚度0.8-1.5mm.
6. 实现NAND内存的读取和访问.<...
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EMMC153/169翻盖弹片转USB
芯片测试
座
产品用途:编程座、测试座,对EMMC153/169的IC芯片进行测试、读写
测试方法
1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET内
2.把USB线插到电脑上USB接口,打开座...
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EMCP221翻盖弹片转SD
芯片测试
座
1. 采用弹片翻盖转SD接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容221PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容IC厚度0.8-1....
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eMCP162/186合金探针转SD
芯片测试
座
1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容IC厚度0.8-1.5mm.<...
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eMCP162/186翻盖弹片转SD接口测试座
1. 采用弹片翻盖转SD接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容IC厚...
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EMMC169/153翻盖探针转SD
芯片测试
座
eMMC169/153合金探针转SD
芯片测试
座 1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿...
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eMMC153/169翻盖弹片转SD接口
芯片测试
座
1. 采用翻盖弹片转SD接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容153PIN和169PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可...
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鸿怡 LPDDR168
芯片测试
座
1 无需客户lay板,直接采用客户提供的产品板,验证准确,最高主频率可以5GHZ;
2 socket只要四颗螺丝便可拆下,探针可以跟换,维护简单方便;
3 白色限位框,可以更换,适用于不同尺寸LPDDR颗粒;
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鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座
1 结构全新设计,相比于之前的旧式结构造型美观,携带轻巧方便;
2 采用手动翻盖式结构,操作方便,测试效率高;
3 高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,生产效率高;
4 专利设计,保证连...
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鸿怡 QFN32
芯片测试
座
1 采用手动翻盖式结构,操作方便;
2 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
3 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试准确率高;
4 采用浮板结构,对于...
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