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新品 QFN8-1.27(5*6)下压探针芯片测试老化座详细信息/Detailed Information

新品 QFN8-1.27(5*6)下压探针芯片测试老化座

工厂大量现货,QFN8-1.27下压式探针IC测试座 (不带板)欢迎来电咨询!
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QFN8-1.27下压探针测试座

 产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN8的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN8引脚间距1.27mm

测试座:QFN8-1.27

特点:采用进口探针,接触更稳定,寿命更长

采购:新品 QFN8-1.27(5*6)下压探针芯片测试老化座

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