您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座采用进口玻铜材料
当前位置:首页 » 鸿怡电子产品中心 » 老化测试座 » 新品 QFN8-1.27(5*6)下压探针芯片测试老化座

新品 QFN8-1.27(5*6)下压探针芯片测试老化座详细信息/Detailed Information

新品 QFN8-1.27(5*6)下压探针芯片测试老化座

工厂大量现货,QFN8-1.27下压式探针IC测试座 (不带板)欢迎来电咨询!
订购热线:13632719880
立即咨询

QFN8-1.27下压探针测试座

 产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN8的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN8引脚间距1.27mm

测试座:QFN8-1.27

特点:采用进口探针,接触更稳定,寿命更长

采购:新品 QFN8-1.27(5*6)下压探针芯片测试老化座

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / Related Products

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳华强北中电B座三楼3010C