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: eMMC153/169 U盘探针测试夹具

eMMC U盘探针测试夹具
eMMC153/169测试座
eMMC socket编程烧录座
探针材料，可更换维修，限位框可更换适用不同尺寸的IC
常见IC尺寸有：11.5*13,12*16,12*18,14*18
可定制BGA132/152/153...
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: EMMC153/169下压弹片转SD芯片测试座

eMMC169/153转SD测试座 eMMC编程器 BGA socket烧录座测试治具
间距0.5mm 30pin
常见规格尺寸有：11.5*13、12*16、12*18、14*18
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: BGA137-0.8翻盖探针转DIP48芯片测试座

工厂直销，欢迎批发，质优价廉！
BGA137翻盖探针转DIP48芯片测试座间距0.8mm，10.5×13mm，只支持8位的BGA137芯片； br> 大量现货，当天发！br>
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: BGA63-0.8翻盖弹片芯片测试座

BGA63 0.8间距socket 翻盖弹片测试座装满63针通孔焊接型老化座
工厂直销店铺，质优价廉！欢迎采购！
BGA63翻盖弹片老化座，大量现货当天发！【0.8间距/63满pin/不带板】
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: emcp162/186翻盖金属探针转USB3.0接口芯片测试座

eMCP162探针金属盒转USB3.0母口测试座 eMCP162/186转USB3.0测试座 USB3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次
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: emmc153/169翻盖金属探针转USB3.0接口芯片测试座

eMMC169探针金属盒转USB3.0母口测试座
eMMC153转USB3.0测试座
USB3.0接口，传输速度快，合金外壳，镀金探针，理论测试寿命长达十万次
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: 定制EMMC测试治具

※ 采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位...
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: APtina摄像头模组测试治具

※ 采用手动翻盖式结构，操作方便； ※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
※ 高精度的定位...
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QFN48-0.5（7*7）翻盖弹片芯片测试座

●产品结构&amp;电气性能稳定，使用操作简便。
●胶体使用PEI&PES耐高低温（-55℃～+170℃）。
●金属导体使用日本NGK铍铜，耐疲劳及高低温（-50℃～+900℃）和优良的导电性。
●此款测试座...
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DFN8-0.5(3*3)翻盖探针芯片测试座

WSON8烧录座DFN8-0.5间距3*3mm 翻盖探针测试座MLP8编程座
工厂直销欢迎批发质优价廉！性能稳定！寿命长！
翻盖探针测试座，体积小,WSON\QFN\DFN8-0.5ANDK自有品牌，最快一天交货！
【0.5间距/带板...
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DFN8-1.27(5*5)翻盖探针芯片测试座

WSON烧录座DFN8-1.27间距5*5mm翻盖探针测试座MLP8编程座厂家直销
工厂直销店铺欢迎批发封装种类齐全，品质保证性价比高！
翻盖探针测试座，体积小，WSON\QFN\DFN8（5*5）-1.27ANDK自有品牌，最快一天交...
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QFN8-08(4*3)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.8转接座QFN84*3mm下压探针老化座
鸿怡工厂直销欢迎批发型号齐全，实惠天下！性价比高！
下压探针测试座，寿命长 DFN8-0.8 ANDK自有品牌，大量现货当天发！
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QFN8-0.5(2*2)下压探针芯片老化测试座

DFN8测试座WSON8-0.5转接座QFN8 2*2mm下压探针老化座
工厂直销店铺欢迎批发型号齐全，质优价廉！性价比高！
下压探针测试座，寿命长、可耐高温 DFN8-0.5
ANDK自有品牌，大量现货当天发！
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BGA63翻盖探针转dip48芯片测试座

BGA63翻盖探针转DIP48测试座
BGA63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
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QFN40-0.5下压弹片芯片测试座

QFN40-0.5芯片测试座镀金插针编程座下压老化座QFN40烧录座工厂
工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座
QFN40-0.4 HMILU自有品牌，大量现货当天发！【0.5间距/不带板...
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SOP24-1.27下压弹片老化座 300mil

工厂直销店铺，品质优良！
SOP24(28)-1.27老化座大量现货当天发！
【本款老化座适配IC规格：SOP封装、24脚、引脚间距1.27mm、芯片本体（不含引脚）宽度7.5mm（300mil）】
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LGA52-1.0下压弹片转DIP48芯片测试座

LGA52下压弹片转dip48测试座 LGA52烧录座转TSOP48编程座测试架
探针可更换可维修，寿命长，兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸
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LGA52翻盖探针转DIP48芯片测试编程座

LGA52翻盖探针转dip48测试座 LGA52烧录座转TSOP48编程座测试架
探针可更换可维修，寿命长，兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸
更多 +

BGA64-1.0翻盖弹片IC老化测试座

深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
更多 +

BGA272-0.8翻盖双面弹芯片老化座测试座

深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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