“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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/17深圳市鸿怡电子有限公司经过不懈的努力，于2017年成功研发出了自己的flash整盘测试机台，立志打造FLASH芯片及其PCBA的无人化制造工厂！
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/16IC老化座测试座使用时间长了之后肯定会有一些灰尘和污垢，从而影响客户的测试和老化。那么我们应该如何进行清洁呢？
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/15我们知道，EMMC和UFS是两种定义不同的闪存芯片，那么EMMC测试座和UFS测试座两者有何区别呢？今天，我们就来做简短个简短的介绍说明。
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/14针对常规的QFP\SOP\QFN等封装芯片，鸿怡电子为大家提供了对应脚位的IC烧录座产品，PIN脚引出双列直插排针，可匹配市面上大多的编程器设备。
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/13DDR是一种双倍速率同步动态随机存储器，广泛应用于计算机及其它电子产品上面。那么，DDR测试治具又是如何使用的呢？现在，鸿怡电子的产品工程师就为大家举例说明：
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/10通常客户在用ATE测试座做IC测试的时候，经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问题，往往是最令人头疼的，但其实只要仔细分析，最终还是能够找到解决方案的。
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/10使用我公司生产设计开模的可重复的贴片晶振测试座可大幅度的降低成本，经过不断的开发试验，我司已将治具制作标准化，提高治具的质量。晶振测试座中测试探针及相关材料的选用对测试治具的好坏及成本是非常重要的， 我司探针均采用国外进口品牌，测试更稳定可靠，并且测试寿命也更长。?
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/09鸿怡电子通过与国内几大射频IC设计公司的多次密切合作，在射频IC测试座、测试治具方面经过多次的研发改良，已经能够满足很好的众多射频IC设计公司的需求，测试座可过高达25G的频率，测试性能稳定可靠。已经成为射频IC厂家的最佳合作伙伴！
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/09IC测试一般分为物理性外观测试（Visual Inspecting Test），IC 功能测试（Functional Test）, 化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation）， 可焊性测试（Solderbility Test）， 直流参数（电性能）测试（Electrical Test）, 不损伤内部 连线测试（X-Ray）， 放射线物质环保标准测试（Rohs）以及 失效分析（FA）验证测试...
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/09今年鸿怡电子在内容中添加了两个新项目。 第一个是用于BGA152 / 132 BGA63 TF卡/UDP卡的NAND闪存自动测试机台等。 第二个是FPC FFC线测试座和BTB连接器测试座。
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