09
/28集成电路芯片的测试具体包括设计阶段的设计验证、晶圆制造阶段的过程工艺检测、封装前的晶圆测试以及封装后的成品测试,贯穿设计、制造、封装以及应用的全过程,在保证芯片性能、提高产业链运转效率方面具有重要作用。 设计验证,又称实验室测试或特性测试,是在芯片进入量产之前验证设计是否正确,需要...
09
/26弹片在测试座里的使用状况:有二个接触点,没有摩擦点,高低温下不会变形,镀金范围小。核心技术掌握在鸿怡电子手中,弹性好,不会出现偏移,没有磨损,寿命长。
09
/25深圳市鸿怡电子有限公司是一家集科研,生产,销售为一体的科技型高科技企业。我公司专门研究和生产各种IC的测试座,老化座,烧录座和集成电路功能验证的集成电路应用功能。
09
/21又是一年月圆时,鸿怡电子深深感谢您对我们的关注、信任与支持!无论现在,还是将来,我们都会不断学习与改进,以最高品质的IC测试座产品和最贴心温暖的服务,回报客户们对鸿怡电子的厚爱。
09
/20鸿怡电子可提供定制各类的IC测试治具,广泛应用于ODM/半导体FAE部门的IC验证,希望以后能够有机会在这方面能有更进一步的探讨和说明,给广大国内设计公司一些更具体的建议和帮助!
09
/19鸿怡电子可提供各类IC的老化测试socket,可用于航空航天、军工、科研单位以及集成电路生产企业,配老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选的连接之用。
09
/18大家都知道测试探针是IC测试座的重要部件之一,那么它有什么特性呢?下面我们一起来了解一下。 鸿怡电子生产、定制的IC测试座产品,根据探针针头的结构不同,大多采用两种结构的探针,一种是尖头探针,大多用于QFN/QFP/LGA等封装的芯片,可以直接扎在焊盘上。另外一种为爪头探针,适用于BGA类似的球状焊盘点上。爪头...
09
/14探针的存在在ic测试socket中充当着重要的角色,因此在定制IC测试治具时对于探针的选型就更应该慎之又慎。这也是为什么,当客户在咨询定制IC测试治具时,我们的销售人员要向您了解更详细的测试要求。
09
/13经常有客户反馈,使用IC测试座一段时间后,探针尖端会残留一些锡渣或灰尘,导致测试不稳定。 遇到这种问题,您可以使用防静电刷,浸入无水酒精,然后轻轻刷上探针以去除残留物。 如有必要,可以使用风枪吹IC测试座探头针区域,这样效果更好;
09
/12在当前下游整机厂家对IC封装尺寸及性能要求日益提高的前提下,无疑,目前的CSP封装以其超小的封装尺寸、优良的散热性能,受到众多消费类芯片的封装首选。但是由于CSP封装目前是采用无铅封装,所以给产品的量产测试带来了一定的技术难题。下文就CSP封装量产的测试方法和测