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鸿怡电子IC测试座测试探针的特性？

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浏览：- 发布日期：2018-09-18 17:57:34【大中小】

前面我们讲了选择合适的测试探针的几大重要因素，大家也都知道了测试探针是IC测试座的重要部件之一，那么它有什么特性呢?下面我们一起来了解一下。

鸿怡电子生产、定制的IC测试座产品，根据探针针头的结构不同，大多采用两种结构的探针,一种是尖头探针，大多用于QFN/QFP/LGA等封装的芯片，可以直接扎在焊盘上。另外一种为爪头探针，适用于BGA类似的球状焊盘点上。爪头包裹住芯片的锡球，使其更良好的接触。

微型双头测试弹簧探针：可减少待测器件上测试球的共面性。
适用IC间距：从0.3毫米到1.27毫米
测试弹簧探针长度短
减少电容、电感和接触电阻\
良好的电气性能
最适合高频/高速测试，如：RF射频器件

特殊管状设计:确保接触性能一致
寿命长:>500k,接近1000k的插入。
焊料移位最小化，维护需求少
大量不同形状的冲头尺寸可选
各种不同的的冲头电镀

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