“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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ATE测试的向量生成 ATE（Automatic Test Equipment）是自动测试设备，它是一个集成电路测试系统，用来进行IC测试。一般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元...
DDR5来了，2020年将会大规模量产 SK海力士宣布成功开发1ynm 16Gb DDR5 DRAM，支持5200Mbps的数据传输速率，比上一代的3200Mbps快约60％，每秒可处理41.6GB数据或11个全高清视频文件（每个3.7GB）。 SK海力士1ynm 16Gb DDR5 DRAM...
3D NAND将拯救“手机空间不足”焦虑症 说到手机族最怕看到的弹出信息，除了“电量不足”和“网络无法连接”外，应该就是“您的存储空间已满”。 导致空间不足的原因很多： 一是智能手机应用的使用量大...
5G时代来临，带来更高存储要求 随着5G时代的全面到来，未来将会对移动存储的要求越来越高，希望有更低延时，更大的存储密度。容量从之前的39GB，到2030年可能达到185GB需求。另外UFS会成为移动市场当中的一个主流，预测从明年...
SIP芯片及IC测试座的市场需求 自Apple宣布推出Apple Watch S4以来，市场一直供不应求，而外资则乐观。今年Apple的Apple Watch出货量达到约2400万，但在增加健康测量和传感功能（如心电图和S4）之后，它将吸引更多的购买力，预...
什么是功能性IC测试治具？ 什么是功能测试治具？功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备，功能测试治具应用于模拟、数字、存储器、R...
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