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深圳鸿怡电子LCC24pin封装芯片翻盖老化座案例 LCC测试座、LCC老化座规格： 芯片封装类型：LCC 芯片引脚：24pin 芯片引脚间距：1.27mm 芯片尺寸：8.5×8.5mm IC老化测试座 LCC封装芯片老化测试要求： 测试温度：+150，无低温要求 测...
鸿怡电子带您了解芯片封装类型以及对应的特点！ 最近很多朋友再问这个问题，不明白两者之间的关系，今天和大家浅聊一下，前面芯片设计那些流程就省略了，之前的文章也有提到过，可以翻看前面的内容！ 首先要明白芯片的封装类型有哪些？在过去...
PLCC48封装光电通信模块测试座案例 目的：光电通信模块测试 名称：PLCC测试座、CLCC测试座 PLCC48pin封装芯片测试座规格： 芯片封装类型：CLCC、PLCC 芯片引脚：48pin 芯片引脚间距：1.0mm 芯片尺寸：16.4×16.4mm 芯片厚度：...
IC测试socket厂家排名 IC测试座（IC socket）在2000年以前，芯片封装测试硬件（IC老化座、IC烧录座、IC测试座以及非标的加工定制测试座、开模定制测试座，还有芯片测试夹具、芯片测试架、芯片测试治具等）一直被国外的...
PCB核心模块金手指测试座测试夹具老化烧录socket探针功能测试
本期主要介绍如何通过探针测试座来对PCB模块进行功能测试，通过如下案例介绍
1、客户需求：PCB模块来料，人工手动检测，PCB已经贴片通过测试金手指焊盘导通测试。
2、模块规格：测试圈...
浅聊芯片老化测试、芯片烧录，IC测试以及对应的座子定义！
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