全站搜索 - qfn老化座 - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：qfn老化座

: 定制QFN34-0.5翻盖探针测试座老化座夹具socket

产品简介：定制非标QFN封装34PIN芯片测试座
测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定...
更多 +

: QFN18封装CS5755SDQ半桥IPM功率模块老化座夹具测试座socket

1、产品简介：对QFN7x7-18L封装的的IPM功率IC进行老化测试。
2、适配IC封装规格：QFN18pin，最小pitch0.65mm，尺寸7x7x0.75。
3、性能要求：-55℃~155℃持续老化测试。
4、老化测试座技术指标：
...
更多 +

: 定制 QFN100 烧录座测试座测试夹具老化座测试socket 0.4pitch

测试座（夹具）特性
①结构：翻盖旋钮式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压...
更多 +

: QFN48-0.35（5x5）烧录座读写夹具测试座老化老炼治具 socket

材料&特性：
socket本体：PEI\LCP
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5KG min ，PIN越多压力越大
绝缘阻抗：1,000MΩ500VDC
最大电流：2A
使用温度：-55℃~155℃@3000小...
更多 +

: 定制 QFN64 射频芯片测试座加接地铜块散热测试夹具老化座 socket

性能参数：
工作频率：8GHZ@1DB；
工作温度：-55℃~155℃；
单PIN电流：1A；
功率：3W；
接触阻抗：≤100mΩ
更多 +

: 定制QFN40-0.35自动化open top socket 烧录座夹具读写编程测试座

测试座（夹具）特性
①结构：下压式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越...
更多 +

: 定制 QFN20 合金翻盖探针测试座测试夹具治具 socket MCU测试

测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
更多 +

: QFN32-0.5(5×5)下压探针老化座（下信号PIN13针+接地针4根，共17根）

测试座（夹具）特性
①结构：按压式（下压）；
②外壳材质：PEI；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：PEI；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越...
更多 +

: 定制QFN14合金翻盖探针测试座夹具读写烧录编程座

测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越...
更多 +

: 定制非标QFN16封装电源芯片测试座老化座夹具

定制塑胶探针测试座特点：
采用开模塑胶外壳，一体成型，成本低、交期短；
采用双头测试探针，探针可更换，PCB可循环利用，综合成本低；
非标IC，根据客户需求针对性设计，设计灵活；
电源芯片，...
更多 +

: 定制非标QFN16-0.4（3×2）翻盖塑胶探针高低温老化测试座

定制塑胶探针测试座特点：
①采用开模塑胶外壳，一体成型，成本低、交期短；
②采用双头测试探针，探针可更换，PCB可循环利用，综合成本低；
③非标IC，根据客户需求针对性设计，设计灵活；
④老...
更多 +

: 定制DFN10烧录座老化夹具0.4mm间距测试座尺寸1.1×1.5mm

产品特点及性能参数：
采用翻盖式旋钮结构，下压平稳接触稳定；?
上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；?
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；?
高精度的定位...
更多 +

: 定制QFN73-0.5-7×7×0.85翻盖探针测试座老化座烧录座夹具

产品特点及性能参数：
采用翻盖式旋钮结构，下压平稳接触稳定；?
高精度的定位槽，保IC定位精确；?
探针可更换，维修方便，成本低；?
KEEP工程绝缘材料制作；?
最小可做到跳距pitch=0.35mm...
更多 +

: 定制QFN16-0.5双扣旋钮手自一体式探针测试座夹具ATE socket

产品特点：采用双扣旋钮式结构，适用于人工手动操作以及自动化设备测试烧录。
接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
核心部件材质：peek陶瓷；
额定电流：1A；
操作压力：30g、PIN越多压力越大...
更多 +

: 定制QFN10pin一拖四翻盖式探针老化座夹具测试座socket（3.2×2.5)

测试座（夹具）特性
①结构：1拖4多工位翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN...
更多 +

: 定制QFN64-0.5（9.5×8）翻盖塑胶探针老化座

产品简介适配芯片尺寸：QFN64封装，间距0.5mm
老化座用途：对QFN64的芯片进行老化、测试、烧录
①结构：翻盖式；
②外壳材质：塑胶；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件...
更多 +

: 定制DFN4-1.1_1.7×2.1翻盖塑胶探针测试座

更多 +

: 定制QFN88-0.4(10×10)翻盖合金探针测试座

更多 +

: 定制DFN14_0.52测试座

更多 +

: 定制DFN8-0.95_8×8合金翻盖探针铜块测试座

更多 +

首页上一页 <... 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 ...> 下一页尾页

相关搜索

QFN老化座

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



