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» 搜索:芯片封装测试
定制TSOP56pin-0.5mm-18.4x16.2mm翻盖探针芯片老化座
TSOP56pin芯片老化测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:TSOP
芯片引脚:56pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:18.4*16.2mm
芯片厚度:2.76mm
更多 +
定制模块64+12pin-1.0mm-24*24mm合金旋钮翻盖IC测试座
模块64pin+12pin-IC测试座规格参数:
品牌:HMILU
模块引脚:64pin+12pin
模块引脚间距:1.0mm
模块尺寸:24*24mm
更多 +
定制LCC8pin-1.27mm-3x3mm一拖十六合金旋钮双扣测试座
LCC8pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:3*3mm
一拖十六工位
更多 +
定制LCC22pin-2.03mm-15.2*15.2mm芯片合金翻盖探针测试座
LCC22pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:22pin
芯片引脚间距:2.03mm
适配芯片尺寸:15.2*15.2mm
更多 +
定制LCC48pin-0.8mm-11x11x1.82mm合金翻盖探针测试座
LCC48pin芯片测试座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:11*11mm
芯片厚度:1.82mm
更多 +
定制SOT23--8L-0.65mm-2.9x2.8mm合金顶窗下压测试座
SOT23-8L芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:SOT23
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:2.9*2.8mm
更多 +
定制LCC24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座
LCC24pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:LCC
芯片 引脚:24pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:10*10mm
更多 +
定制LCC4(下7PIN)-0.8mm(2x1.45mm)合金翻盖探针测试座
LCC4pin(实际下针7pin)芯片测试座规格参数信息:
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:4pin(实际下针7pin)
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:2*1.45,mm
更多 +
定制SMD4pin-3.8mm-7.55x7.55mm合金翻盖探针测试座
SMD4pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:SMD
芯片引脚间距:3.8mm
适配芯片尺寸:7.55*7.55mm
更多 +
定制WLCSP36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座
WLCSP36pin晶振测试座规格参数:
晶振封装形式:WLCSP
晶振引脚:36pin
晶振引脚间距:0.4mm
适配晶振尺寸:2.487*2.541mm
更多 +
定制LCC10pin-0.65mm-3x3mm合金翻盖探针测试座
LCC10pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:3*3mm
更多 +
定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座
LCC8pin芯片一拖多工位测试座规格参数:
芯片封装类型:LCC
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:5*5mm
一拖九工位测试座
更多 +
定制LGA32pin-1.0mm-19x12mm一拖20工位合金旋钮双扣测试座
LGA32pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:1.0mm
适配芯片尺寸:19*12mm
双扣式手自一体测试座
更多 +
定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座
LCC84pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LCC
芯片引脚:84pin
芯片引脚间距:1.27mm
适用芯片尺寸:29.21*29.21mm
更多 +
定制LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座
LCC48pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LCC
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:8.5*8.5mm
更多 +
SOT23-3pin-1.4mm芯片老化测试座
SOT23-3pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:SOT23
芯片引脚:3pin
适配IC本体尺寸:1.4mm
适配IC含引脚尺寸:2.4mm
更多 +
JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座
JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座规格参数:
适用芯片封装类型:JFP/OTS/SOP
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:5mm
更多 +
定制JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座
JFP10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数:
适用芯片封装类型:SOP/JFP/OTS
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:1.9mm
适配芯片尺寸:10.5mm
更多 +
定制17pin-1.54mm-29x29mm金手指模块测试座
金手指模块测试座规格参数:
模块引脚:17pin
模块引脚间距:1.54mm
模块尺寸:29*29mm
更多 +
TO277B-3L-SMC5翻盖老化座
TO277B老化测试座规格参数:
封装类型:TO
IC间距:1.8mm
IC本体尺寸:5.4mm
IC含脚尺寸:6.5mm
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