鸿怡电子生产定制的SOT23--8L-0.65mm-2.9x2.8mm合金顶窗下压测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用SOT23芯片测试环境:老化、测试、烧录,适用芯片HAST测试/HTOL测试
SOT23-8L芯片测试座产品简介:
HTOL测试:+125°,持续1000小时
HAST测试:+130°,相对湿度85%,96小时*5
芯片测试电流:8A
芯片测试座结构:下压式
芯片测试座材料:合金