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定制DFN2合金翻盖测试座
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手机芯片UFS2.0 2.1测试座_合金探针老化座_翻盖式插座_UFS编程座
工厂介绍 鸿怡电子生产定制手机芯片UFS2.0 2.1测试座_合金探针老化座_翻盖式插座_UFS编程座,同时还生产其他种类齐全的
芯片封装测试
座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/S...
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定制63pin邮票孔模块测试座
工厂介绍 鸿怡电子生产定制各类邮票孔模块测试座,同时还生产其他种类齐全的
芯片封装测试
座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。
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定制QFP64pin-0.65 14×14合金翻盖测试座
工厂介绍 鸿怡电子生产定制QFP64pin-0.65 14×14合金翻盖测试座,同时还生产其他种类齐全的
芯片封装测试
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定制QFN2-0.65-1.0×0.6定制合金翻盖测试座
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定制邮票孔模块129-1.35 52×51翻盖旋钮测试治具
工厂介绍 鸿怡电子生产定制邮票孔模块129-1.35 52×51翻盖旋钮测试治具,同时还生产其他种类齐全的
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定制SOT23-1.27-4mm合金翻盖探针测试座
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HY026-JJ-5.7L双头探针
产品型号:HY026-JJ-5.7L双头探针
所属分类:双头探针
产品头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要...
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HY026-JU-5.7L双头探针
产品型号:HY026-JU-5.7L
所属分类:双头探针
产品头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于:...
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HY026-UU-5.7L双头探针
产品型号:HY026-UU-5.7L
所属分类:双头探针
产品头型:探针外径为0.26mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于:IC t...
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HY030-UJ-5.7L 双头探针
产品型号:HY030-UJ-5.7L
所属分类:双头探针
产品头型:探针外径为0.30mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头、圆头
产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于:...
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HY030-UU-5.7L 双头探针
产品型号:HY030-UU-5.7L
所属分类:双头探针
产品头型:探针外径为0.30mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于:IC t...
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HY030-BU-5.7L 双头探针
产品型号:HY030-BU-5.7L
所属分类:双头探针
产品头型:探针外径为0.30mm,总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头、爪头
产品优势:产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于:...
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定制三星UFS2.1芯片测试治具 三星手机测试架
可根据客户需求定制各类UFS测试治具.
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