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» 搜索:芯片老化测试座
TSSOP24pin-0.65mm
芯片老化测试座
TSSOP24pin芯片老化座规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:TSSOP
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.65mm
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88PIN-0.8mm-30x20mm合金翻盖芯片老化座--老化板
88pin
芯片老化测试座
/老化板规格参数:
品牌:HMILU
制作方式:加工定制
芯片引脚:88pin
芯片引脚间距:0.8mm
适配芯片尺寸:30*20mm
更多 +
TO252-3PIN-2.286mm-6.8x7.1mm合金翻盖测试座
TO252-3L功率器件测试座规格参数:
品牌:HMILU
封装形式:TO252
器件引脚:3pin
引脚间距:2.286mm
适配尺寸:6.8*7.1mm
更多 +
QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座
QFN24pin
芯片老化测试座
规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4*4mm
更多 +
BGA25pin-1.27mm-6.25x6.25mm塑胶翻盖电源
芯片老化测试座
BGA25pin电源
芯片老化测试座
规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:25pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:6.25*6.25mm
更多 +
BGA144pin-1.27mm-15x15mm塑胶翻盖电源
芯片老化测试座
BGA144pin电源
芯片老化测试座
规格参数:
品牌:HMILU
电源芯片封装形式:BGA
芯片引脚:144pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配电源芯片尺寸:15*15mm
更多 +
定制QFN56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖探针
芯片老化测试座
QFN56pin
芯片老化测试座
规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:56pin
芯片引脚:0.4mm
适配芯片尺寸:7*7mm
更多 +
定制QFN80pin-0.35mm-8x8mm合金翻盖探针
芯片老化测试座
QFN80pin
芯片老化测试座
规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:80pin
芯片引脚间距:0.35mm
适配芯片尺寸:8*8mm
更多 +
定制BGA28pin-0.35mm-2.734x1.656mm合金下压式
芯片老化测试座
BGA28pin
芯片老化测试座
规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:28pin
芯片引脚间距:0.35mm
适配芯片尺寸:2.734*1.656mm
更多 +
定制TSOP56pin-0.5mm-18.4x16.2mm翻盖探针芯片老化座
TSOP56pin
芯片老化测试座
规格参数:
品牌:HMILU
芯片封装形式:TSOP
芯片引脚:56pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:18.4*16.2mm
芯片厚度:2.76mm
更多 +
USON8/DFN8pin-0.5mm-2X3mm军工级耐高低温
芯片老化测试座
DFN8pin
芯片老化测试座
规格参数:
芯片封装形式:USON8/DFN8/QFN8/LGA8/WSON8
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:2*3mm
更多 +
定制CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座
CQFN21pin
芯片老化测试座
规格参数:
芯片封装形式:CQFN
芯片引脚:21pin
芯片引脚间距:0.6mm
适配芯片尺寸:7.5*7.5mm
更多 +
QFN48pin-0.5mm-7x7mm
芯片老化测试座
QFN48pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:7*7mm
更多 +
DFN8pin-0.5mm-2X2mm
芯片老化测试座
DFN8pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多 +
SOP14(20)pin-1.27mm芯片下压老化测试座
SOP
芯片老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:14(20)pin
芯片引脚间距:1.27mm
更多 +
QFN16pin-0.5mm-3X3mm
芯片老化测试座
(带顶针)
QFN16pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:3*3mm
更多 +
DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座
DFN6pin
芯片老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:6pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多 +
定制QFN32pin-0.89mm-8.84X8.84mm合金翻盖探针老化座
QFN
芯片老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.89mm
适配芯片尺寸:8.84*8.84mm
更多 +
QFN20pin-0.65mm
芯片老化测试座
QFN20pin
芯片老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.65mm
适用芯片尺寸:5*5mm
更多 +
SOT23-3pin-1.4mm
芯片老化测试座
SOT23-3pin
芯片老化测试座
规格参数:
芯片封装类型:SOT23
芯片引脚:3pin
适配IC本体尺寸:1.4mm
适配IC含引脚尺寸:2.4mm
更多 +
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