鸿怡电子生产定制的QFN56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖探针芯片老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN56pin芯片测试环境:老化、测试、编程烧录
QFN56pin芯片老化测试座产品简介:
芯片测试电流:300mA
芯片测试频率:1Ghz
芯片测试温度:-55°~+175°
芯片测试座结构:旋钮翻盖式
芯片测试座材料:合金