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定制QFN80pin-0.5mm-6X6mm翻盖合金测试座
QFN80pin芯片测试座规格参数:
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芯片引脚:80pin
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该QFN产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
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常见的芯片有电源转换芯片老化测试、动力分配传感器芯片老化测试、电源管理芯片老...
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QFN20 老化座 0.4间距 翻盖弹片测试座 qfn20适配器 烧写座
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BGA87-0.8(7×10)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座;
本款老化座,适配BGA87脚,间距0.8,尺寸7*10mm的芯片;
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QFN8 DFN8 WSON8编程插座Pogo引脚探针适配器引脚间距0.5mm IC主体尺寸2x2mm翻盖式测试插座编程器
FN8 烧录座 QFN8-0.5 WSON8 MLP8 2×2mm 翻盖探针测试座 厂家
DFN8/WSON8/MLP8烧录座 0.5mm引脚间距/带PCB转板,转出DIP8插针可直插编程器通用锁紧座!
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QFN12-0.4(5*5)下压弹片IC测试老化座
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下压qfn12测试座 NP506-012-038-SC-G
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QFN12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座
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QFN8-0.5(2*2)下压探针芯片老化测试座
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深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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BGA96转DIP96翻盖弹片芯片测试座烧录座
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烧录座 0.8间距 厂家直销 工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片测试座,BGA96-0.8翻盖弹片测试座,大量现货当天发! 【翻盖/带板】
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此老化座布板有通孔焊接与实心焊盘接触两种(区别是老化座底部pin针长短不同),两种都有现货,欢迎来电咨询
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BGA221-0.5下压弹片芯片测试老化座
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SOP28(28)-1.27下压弹片IC烧录座
本款烧录座适配芯片规格:SOP封装、28PIN、引脚间距1.27mm、芯片本体(不含引脚)宽度7.5mm
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TSOP48下压宽体FLASH
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特 点: 直接采用客户提供的产品板 简便快捷 验证精准
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