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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: HMILU测试探针P50-A

产品名称：HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类：测试探针
产品简介：针的外径是0.68mm,总长度为16.5mm，测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试探针P50-F
产品名称：HMILU-P50-F、HMILU-PA50-F
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、...
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: HMILU测试探针P50-H

产品名称：HMILU-P50-H、HMILU-PA50-H
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径W为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、...
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: HMILU夹片探针3.0

产品名称：HMILU3.0夹片针
所属分类：夹片针
适用人群：主用到变压器电感接插件做测试用的
产品介绍：夹片针的寿命是10万次，料采用的是铍铜，胶温度可达200度
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: HY026-JJ-5.7L双头探针

产品型号：HY026-JJ-5.7L双头探针
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试...
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: HY026-JU-5.7L双头探针

产品型号：HY026-JU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为圆头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误...
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: HY026-UU-5.7L双头探针

产品型号：HY026-UU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.26mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率...
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: 测试探针HY-G1353-T

产品名称：HY-G1353-T
所属分类：测试探针
产品简介：HY-G1353-T-T探针、1.36mm测试针、总长36.5mm、弹簧针、测试针、顶针、...
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: HY030-UJ-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-UJ-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头、圆头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误...
更多 +

: HY030-UU-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-UU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率...
更多 +

: HY030-BU-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-BU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误...
更多 +

: 高频探针001

产品名称：高频探针001
所属分类：高频探针
产品简介：高频针高频探针、高频测试针信号测试针 5针高频针测试探针
产...
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: LCD FPC connector弹片微针模组测试座

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专业定制各类IC测试座、测试治具、老化座
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SOP封装，88pin 1.27间距
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在客供的PCB主板装上一拖二式测试座
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型号: BGA80-1.0合金翻盖探针测试座
适用场景: 测试烧录编程老化
封装方式: BGA
引脚间距: 1mm
引脚数: 80个
测...
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: QFN32-0.5芯片测试翻盖弹片老化座

材料&特性：
socket本体：PEI
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5KG min ，PIN越多压力越大
绝缘阻抗：1,000MΩ，500VDC
最大电流：2A
使用温度：-55℃~175℃@3000小时...
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: 定制CLCC44-1.27测试座合金翻盖探针老化座编程座 ic座

适用封装芯片为：CLCC44pin 间距为1.27mm 尺寸：16.5*16.5m
根据客户需求，上盖和底盖均需要做避空处理
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在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上，直接将socket精准的固定在产品之上
无需layout,大大降低测试成本，广泛适...
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