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» 搜索:测试治具
SM2246EN主探转BGA272一拖二SSD闪存
测试治具
该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进 口铍 铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的可以有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球的芯片。
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慧荣SM2256K主探转BGA152一拖四SSD闪存
测试治具
SSD闪存测试夹具,SM2256K主控,BGA152/132一拖四
测试治具
。一块测试板+四个BGA152测试座。(测试板已焊接好端子板测试座可随意插拔互换)
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SMI2246EN主探转BGA152/132一拖二SSD FLASH
测试治具
产品特点:可以测试各类封装的FLASH BGA100 /132/152 /TSOP48/LGA等转DIP48的测试座都可以随意更换
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GDDR3一拖四显存
测试治具
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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GDDR5一拖二显存
测试治具
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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DDR3*8一拖八内存条
测试治具
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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GDDR5内存芯片测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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DDR2/3/4芯片测试座 DDR
测试治具
,内存颗粒测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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LPDDR240芯片测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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LPDDR216芯片测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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LPDDR221芯片分析测试座
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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LPDDR168内存条芯片
测试治具
集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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DDR4*8一拖八内存条IC
测试治具
公板!现货!一次性可以测8颗DDR4内存颗粒,大大提高生产效率
为方便广大客户测试不同规格的内存IC,发货随治具免费配齐4套限位框:7.5*11mm、9*11mm、9*11.1mm、9*11.5mm
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SSOP16(28)-0.65下压弹片IC烧录座
本款烧录座适配SSOP/TSSOP封装、16脚、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm的芯片
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QFN40-0.4翻盖双层板IC烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN40引脚间距0.4mm
测 试 座:QFN40-0.4
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN36翻盖弹片单层板IC测试座
产品用途:编程座、测试座,对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN36引脚间距0.5mm
测 试 座:QFN36-0.5
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
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DDR4*8一拖八内存条
测试治具
(台湾订制版)
1、Socket材料:优质铝合金、工程玻纤、工程塑料
2、PCBA板材料:FR4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强
3、探针 材料:
针管:磷铜
针头:铍铜
弹簧:琴钢丝
电气...
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鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座
1 结构全新设计,相比于之前的旧式结构造型美观,携带轻巧方便;
2 采用手动翻盖式结构,操作方便,测试效率高;
3 高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,生产效率高;
4 专利设计,保证连...
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[大电流弹片微针模组]3C锂电池连接器大电流弹片微针模组
2019年07月25日 17:29
当前,锂电池产品测试的难点在于电流大(充放电过流保护测试项目要求过4.5-40A这个范围),传统的探针
测试治具
里探针可过电流至多只能达2A,所以就没有办法用传统探针治具来进行测试。现在由我司新研发的大电流弹片微针模组就可以很好的解决这方面的问题,电池过流检测时可以过电流最高达50A,大力帮助工厂提高测试速度的同时,测试设备寿命更长,不损伤电池BTB连接器,电池成品良率也会更上一层楼。
阅读(607)
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[EMMC/EMCP分析治具]提供eMMC/eMCP测试解决方案
2016年07月20日 13:54
我们提供eMMC/eMCP测试解决方案服务,可以根据客户要求设计、制作
测试治具
,配套使用整套方案,省时、省力更省心
阅读(792)
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