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鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座详细信息/Detailed Information

鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座

1 结构全新设计,相比于之前的旧式结构造型美观,携带轻巧方便;
2 采用手动翻盖式结构,操作方便,测试效率高;
3 高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,生产效率高;
4 专利设计,保证连接稳定可靠;
5 采用进口探针和防静电材料制作;
6 绝缘材料:FR4;
7 最新可做到测试间距pitch=0.3mm;
8 可根据客户不同类型PCBA产品定制各种芯片测试治具;
9 交货快:最快一天内交货。
订购热线:13631538587
立即咨询
产品参数 /Parameter
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材料组成 额定功率 机械性能
Socket本体:PPS工程塑料(耐磨性、抗干扰性信强)
针管:磷铜
针头:铍铜
弹簧:琴钢丝
额定电流:0.5A
接触阻抗:100mohm
温度范围:常温测试
测试寿命:10万次

采购:鸿怡 Iphone5/5C/5S IPAD1/2/3硬盘测试座

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引脚中心间距:1.27mm
适配芯片尺寸:3.8*3.8mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式-一拖四工位
老化座材料:PEI+PEEK
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老化座结构:翻盖式
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芯片引脚:121pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:8*8mm
接触介质:探针
烧录座结构:翻盖式
烧录座材料:PEI+PEEK

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