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» 搜索:测试治具
DDR3X8一拖八内存颗粒测试夹具
DDR3×8 一拖四POGO PIN探针结构
测试治具
规格:
1、DDR3×8 78 Ball
2、频率F:超过1600Mhz
3、使用于:三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒
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DDR3×16一拖四内存颗粒
测试治具
DDR3×16 一拖四POGO PIN探针结构
测试治具
规格:
1、DDR3×16 96 Ball pitch:0.8
2、频率F:超过2400Mhz
3、适用于:三星、海力士、现代、华邦、美光、等各类内存...
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SM2256K主控转BGA316合金翻盖一拖二
测试治具
BGA316/TSOP48一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本,翻盖操作取换芯片简单,探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进...
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定制LPDDR3 BGA178合金翻盖式芯片分析测试座
定制集成电路测试插座LPDDR3 bga178适配器IC测试插座插座双锁翻盖结构分析测试插座
类型:LPDDR3 bga178
引脚数:178
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专业定制BGA翻盖旋钮合金芯片测试座
我公司专业定制各类BGA芯片
测试治具
, 适合封装脚位有:BGA152、BGA137、BGA100、BGA96、BGA88等.. 结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、下压等 接触方式:探针
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QFP100 IC
测试治具
POGOPIN接触式翻盖结构
应用集成:QFP100芯片;
结构:翻盖式接触式:
POGOPIN定制:是的;
manual或手动和自动作为一个整体,定位精确,操作方便,使用进口探针;
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eMMC153/169 U盘探针测试夹具
eMMC U盘探针测试夹具
eMMC153/169测试座
eMMC socket编程烧录座
探针材料,可更换维修,限位框可更换适用不同尺寸的IC
常见IC尺寸有:11.5*13,12*16,12*18,14*18
可定制BGA132/152/153...
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EMMC153/169下压弹片转SD芯片测试座
eMMC169/153转SD测试座 eMMC编程器 BGA socket烧录座
测试治具
间距0.5mm 30pin
常见规格尺寸有:11.5*13、12*16、12*18、14*18
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ISSD
测试治具
ISSD
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ISSD测试 尺寸12*20
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SMI2246一拖二转BGA152/132双面弹
测试治具
产品特点:可以测试各类封装的FLASH BGA100 /132/152 /TSOP48/LGA等的双面弹测试座都可以随意更换
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苹果iPhone配件测试架 摄像头尾插触摸屏显示屏排线
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定制EMMC
测试治具
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※ 高精度的定位...
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APtina摄像头模组
测试治具
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※ 高精度的定位...
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SM2256K主控转BGA152翻盖双面弹测试座
BGA152测试座 翻盖双面弹一拖二 2256K主控 转SSD接口测试座 厂家
此款免焊接,Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上 SM2256K主控,批量有优惠!
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2246EN 2256K主控
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SSD内存测试夹具 DDR3
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DDR3 socket 翻盖探针socket
翻盖探针设计,小巧,方便快捷
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SM2258H转BGA152/132一拖四双面弹测试夹具
SSD闪存测试夹具,SM2258H主控,BGA152/132一拖四
测试治具
。一块测试板+四个BGA152测试座。(测试板已焊接好端子板测试座可随意插拔互换)
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