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» 搜索:测试架
定制BTB40pin-0.4mm合金翻盖微针模组
BTB40pin测试微针模组规格参数:
连接器引脚:40pin
引脚间距:0.4mm
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定制邮票孔85PIN-1.27mm-1.02x0.4mm合金翻盖探针测试座
邮票孔85pin探针测试座规格参数
模块引脚:85pin
引脚间距:1.27mm
外形尺寸:44.98×32.79mm
厚度:2.2mm
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定制BGA206pin-0.4mm-6.6x6.6mm手机测试治具
BGA206芯片测试治具规格参数
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:206pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:6.6×6.6mm
芯片厚度:1.0mm
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定制DFN4pin-1.05×0.65×0.45mm电容测试座
DFN4pin封装电容测试座规格参数
封装类型:DFN
引脚:4pin
电容尺寸:1.05×0.65×0.45mm
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定制EMCP221pin-0.5mm-11.5x13mm手机芯片测试治具
EMCP221手机芯片测试治具规格参数
芯片封装类型:EMCP
芯片引脚:221pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:11.5×13mm
芯片厚度:1.1mm
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定制BGA32pin-0.4mm-2×4mm合金翻盖测试座
BGA32pin封装芯片测试座规格参数
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:2×4mm
芯片厚度:0.7mm
更多 +
定制LGA14pin-0.5mm-2.5x3mm塑胶翻盖测试座
LGA14pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:2.5×3mm
更多 +
定制模块PLCC48pin-1.0mm-16.4x16.4mm合金翻盖探针测试座
PLCC48pin模块探针测试座规格参数:
封装类型:PLCC
模块引脚:48pin
引脚间距:1.0mm
模块尺寸:16.4×16.4mm
模块厚度:4.0mm
更多 +
定制QFN100pin-0.5mm-8X8mm合金翻盖测试座
QFN100pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:100pin
芯片尺引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:8×8mm
更多 +
定制DFN16pin-0.65mm-5X6mm翻盖探针合金测试座
DFN16pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:0.6mm
芯片尺寸:5×6mm
芯片厚度:0.75mm
更多 +
定制BGA225pin-0.8pin-12X12mm合金旋钮探针测试座
BGA225pin封装芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:225pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:12×12mm
更多 +
定制邮票孔模块36+5PIN-2.0(30x35mm)合金翻盖测试座
PCB模块
测试架
是一种用于测试电子产品的工具,它可以为PCB电路板上的各个模块提供稳定的电源和信号输入,并能够采集输出信号进行分析。通过使用
测试架
,可以在保...
更多 +
BGA641封装手机CPU
测试架
测试治具夹具工装0.4小间距
手机CPU芯片BGA641封装
测试架
测试治具
BGA641,间距0.4,尺寸12.8*12.8,
手机CPU,最高频率1.5GHZ,温度电流无要求
更多 +
定制SOP36-0.65电源芯片翻盖旋钮
测试架
治具夹具socket工装
SOP36
测试架
特点:
采用金属铜块导热;
采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移位下压平稳接触稳定;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位...
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定制LQFP100-0.5翻盖旋钮探针测试治具夹具
测试架
socket
QFP100芯片
测试架
简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架
类型:翻盖旋钮式
接触方式:双...
更多 +
DDR3x16位(96ball)一拖四导电胶内存条颗粒测试治具测试夹具
产品简介:适用与DDR3,16位(96球)内存颗粒memory测试;
适配颗粒:BGA96球,0.8间距颗粒;
适用频率:≤3200MHZ;
额定电流:1.5A;
接触材料:进口导电胶;
重要特点:治具超薄厚度,不...
更多 +
DDR4x16位(96ball)一拖四导电胶内存条颗粒测试治具测试夹具
产品简介:适用与DDR4,16位(96球)内存颗粒memory测试;
适配颗粒:BGA96球,0.8间距颗粒;
适用频率:≤3200MHZ;
额定电流:1.5A;
接触材料:进口导电胶;
重要特点:治具超薄厚度,不...
更多 +
定制SOP48封装芯片翻盖探针
测试架
测试治具socket烧录座
产品简介:客户提供PCBA测试底板,拆卸SOP48封装芯片改装而成。
适配芯片:SOP封装,48PIN,间距0.5mm,含引脚尺寸12.6*8.3mm
温度常温
每单PIN电流过1A内
频率在1000MZH
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赛灵思 FBGA484 功能性测试治具
测试架
检测夹具 测试socket
BGA484
测试架
测试治具测试夹具
性能参数:
接触方式:pogoPIN
机械寿命:10万+
工作频率:700MHZ;
工作温度:常温;
单PIN电流:1A;
接触阻抗:≤10...
更多 +
定制2.5GHZ-WIFI邮票孔模块
测试架
治具夹具测试座socket
产品简介:客户提供产品底板拆装而成
1、应用:2.5GZH-WiFi邮票孔模块,44PIN
2、射频要求:2.5GHZ,回损-15db,插损-db
3、电流:1A以内
4、温度:常温环境
5、寿命:10W+
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