鸿怡电子生产定制的LGA45pin-0.8mm-7.8x8.5mm旋钮合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
LGA芯片测试座、LGA芯片老化座、LGA芯片烧录座
LGA45pin芯片测试条件要求:
芯片测试速率:5.25Gbps
芯片测试频率:2.6Ghz
测试电流:1A
测试温度:常温
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金