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模块136pin探针测试架—模块
测试工装
夹具
模块136pin
测试工装
夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
模块引脚:136pin
模块引脚间距:1.2mm
适配模块尺寸:45.8*41mm
接触介质:探针
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BGA641封装手机CPU测试架测试治具夹具工装0.4小间距
手机CPU芯片BGA641封装测试架测试治具
BGA641,间距0.4,尺寸12.8*12.8,
手机CPU,最高频率1.5GHZ,温度电流无要求
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定制 QFN64 射频芯片 测试座 加接地铜块散热 测试夹具 老化座 socket
性能参数:
工作频率:8GHZ@1DB;
工作温度:-55℃~155℃;
单PIN电流:1A;
功率:3W;
接触阻抗:≤100mΩ
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定制 QFN40 MCU 测试架 测试治具 测试夹具
测试工装
socket 探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试MCU芯片QFN40封装的IC是否正常。
特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,...
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定制BGA132封装SSD颗粒测试座老化夹具
测试工装
烧录读写编程座
测试座特点
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力...
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定制 CICS13A 传感器 探针测试座 socket 夹具 治具
测试工装
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制LGA28老化夹具测试座socket MUC芯片测试
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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BGA291 射频 测试座 高频 测试夹具 治具
测试工装
socket
1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
...
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定制BGA284(SMB S805x)创发econet芯片测试治具夹具
测试工装
产品简介:
需求:在现有的产品上面对芯片进行测试。
设计方式:采用客户现有的测试主板,通过主板的外形大小及现有孔位来添加测试座固定夹层来固定socket。
最高频率1.6GHZ
电流1A以内
使...
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LQFP\TQFP\QFP48-0.5翻盖弹片老化座夹具治具
测试工装
socket
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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定制SMD-4Pin测试座翻盖探针pogoPIN双工位测试夹具
测试工装
测试座(夹具)特点:
①根据客户空间使用要求,设计成双工位的形式,同时测试两颗芯片,提高测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试夹具采用多...
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定制QFP64封装MCU合金翻盖烧录测试座测试夹具
测试工装
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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[新闻中心]测试座socket篇--2023年最全半导体IC测试座最新定义
2023年06月14日 16:46
2023年最全半导体IC测试座最新定义--测试座socket篇 根据鸿怡电子IC测试座工程师介绍:IC测试座几乎在每个行业的叫法都不一样(欢迎对号入座) 1、IC test socket、IC socket、芯片socket 2、芯片测试座 3、芯片测试夹具、IC测试夹具 4、IC测试治具、芯片测试治具 5、各封装+测试座或socket(如QFN测试座、BGA测试座、QFP测试座等) 6、芯片插座、IC插座、IC座、芯片插座、芯片基座 7、芯片测试架、IC
测试工装
夹具 8
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