QFN20-0.4间距翻盖弹片老化测试座_qfn20适配器_烧写座测试座

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浏览：- 发布日期：2021-09-26 10:38:29【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN20-0.4间距翻盖弹片老化测试座_qfn20适配器_烧写座测试座，同时还生产其他IC芯片测试夹具治具。

QFN20-0.4烧写老化测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN20的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN20 引脚间距0.4mm

测试座:QFN20-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-20-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:20

适配芯片尺寸: 3*3mm

QFN20翻盖弹片老化测试座

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