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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 鸿怡 QFN32芯片测试座

1 采用手动翻盖式结构,操作方便；
2 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
3 高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位精确，测试准确率高；
4 采用浮板结构，对于...
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[Flash半自动测试机台]Nand Flash 半自动测试机台2018年10月10日 14:24: 鸿怡电子为您提供Nand Flash半自动测试机台系列可用于BGA152/132 / TSOP48 / TF / COB(長) / COB(短) 测试使用; 阅读（477）标签：

[EMMC/EMCP分析治具]提供eMMC/eMCP测试解决方案2016年07月20日 13:54: 我们提供eMMC/eMCP测试解决方案服务，可以根据客户要求设计、制作测试治具，配套使用整套方案，省时、省力更省心; 阅读（792）标签：

[摄像头及触摸IC测试治具]提供d-摄像头及触摸IC解决方案2016年07月20日 09:47: 我们提供d-摄像头及触摸IC解决方案服务，可以根据客户要求设计、制作测试治具，配套监控系统等整套方案，省时、省力更省心; 阅读（363）标签：

[新闻中心]鸿怡电子IC测试座工程师：AR/VR眼镜核心技术解析，其测试解决方案分享2024年07月23日 16:50: 增强现实（AR）和虚拟现实（VR）逐渐成为推动未来变化的重要科技之一。在这些革命性产品中，AR/VR眼镜无疑是其技术前沿的代表。鸿怡电子IC测试工程师介绍：为了充分发挥其潜能，AR/VR眼镜往往集成了多种顶尖技术，包括芯片、传感器、WiFi模块、蓝牙模块和光学模组。一、AR/VR眼镜的芯片技术 1.1 芯片概述 AR/VR眼镜中的芯片是一整体系统中的关键组件，性能高低直接关系到设备的运算能力与用户体验。目前，常见的芯片类型有CPU（中央处理器）、GPU（图形处理单元）及U; 阅读（17）标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[鸿怡动态]QFN测试座是什么？QFN测试座该如何选型？-鸿怡电子HMILU2022年10月24日 10:58: QFN测试座是什么？QFN测试座该如何选型？-鸿怡电子HMILU 在芯片封测行业市场上，QFN封装芯片有3种测试，测试、烧录、老化，即对应QFN测试座、QFN烧录座、QFN老化座。 HMILU案列： QFN探针测试座特点：芯片引脚：64pin 芯片引脚间距：0.5mm 芯片尺寸：9×9mm 采用合金材料旋钮方式，无缝隙压合 QFN封装具有良好的热性能，QFN封装底部有一个大面积的散热焊盘，可以用来传递封装芯片工作产生的热量，从而有效地将热量从芯片传递到芯; 阅读（151）标签：QFN系列|QFN烧录座|QFN老化座|产品|新闻|定制IC测试架|定制测试座|定制测试治具

[鸿怡动态]鸿怡电子为您深度解析如何更好的完成HTOL老化测试。2022年06月23日 15:42: 前面文章中，我们多次介绍了有关于芯片老化测试的一些内容，因为随着国内集成电路的发展如火如荼。集成电路设计公司、晶圆厂、封测厂商数量增加。整个行业慢慢的都在国产化。而另人欣慰的是，集成电路的品质也得到了前所未有的重视。其中，与质量息息相关的可靠性测试也成为重中之重。今天我们就简单聊一聊：如何完美地做好可靠性测试中最重要的测试：高温工作寿命测试（简称老化测试或HTOL）。在上一篇文章中，我们也多次提到HTOL，那么什么是HTOL，HTOL（High Temper; 阅读（455）标签：

[鸿怡动态]QFN56-0.4芯片测试座_下压老化座_NP506-056-006-SC-G编程座2021年10月13日 11:16: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN56-0.4芯片测试座_下压老化座_NP506-056-006-SC-G编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.4mm测试座:QFN56-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-56-0.4引脚间距; 阅读（23）标签：DFN8|QFN系列|产品|WSON8|车规芯片老化测试座|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN48-0.5烧录测试座_QFN48老炼座_镀金适配座_高温老化座2021年10月11日 10:31: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN48-0.5烧录测试座_QFN48老炼座_镀金适配座_高温老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN48-0.4测试座：QFN48-0.4老化座规格尺寸QFN48编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：; 阅读（32）标签：产品|QFN系列|DFN8|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[常见问题]探针烧毁的原因分析2021年10月08日 12:04: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。某些IC芯片有可能内部短路，在测试时，造成电流过大，引起探针、针板等配件烧坏，甚至烧坏客户的PCBA板，所以在上电测试之前一定要确保IC芯片是没有内部短路的；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（104）标签：BGA测试座|DFN8|QFN系列|车规芯片老化测试座|WSON8|产品|BGA老化测试座|BGA定制测试座|QFN烧录座|微针模组|QFN老化座

[常见问题]有锡球/无锡球测试的区别2021年10月08日 12:01: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。有锡球测试：指测试带有完整锡球的IC芯片，采用爪头探针，直接与锡球接触；无锡球测试：指测试没有锡球的IC芯片，采用尖头探针，直接与PAD接触；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（65）标签：DFN8|QFN系列|产品|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|BGA老化测试座|BGA测试座|BGA定制测试座

[常见问题]测试探针的结构和使用寿命2021年10月08日 11:56: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。一般探针的材质为铍铜，外为镀镍金，由四个部分组成：针头、针管、针尾、琴钢丝；以此款探针的为例，管径为0.65mm，适用于0.8pitch；耐电流为：3A；机械测试寿命为：30 W次；使用温度为：-25～+120C；如有其他不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（306）标签：产品|QFN系列|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|BGA老化测试座|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座

[鸿怡动态]智能手机连接器整体测试解决方案2019年12月24日 17:27: 众所周知，手机市场已经从功能机迅速转移到智能手机，从手元智能机到高端四核、双核手机已经推出并应用到市场，作为消费类电子连接器龙头，Molex连接器为智能手机行业和客户打造出了最全面的连接器解决方案。而鸿怡电子，则可以完整的提供手机连接器的测试解决方案，提供的产品涵盖： 1、板对板连接器，简称BTB：板对板配合智能手机纤薄设计，从最低组合高度0.7mm到1.5mm均大量被国际、国内各品牌采用考虑到智能手机高传输速度，将高速理念融入到设计，可以满足各种高速传输要求，也已经推出带; 阅读（129）标签：

[鸿怡动态]pogpin模组和弹片微针模组的优势对比2019年11月04日 17:38: 3C数码行业如今发展的趋势越来越迅猛，高科技产品如雨后春笋般纷纷涌现，电子产品的连接器越来越精密，测试的难度越来越高。连接器测试模组遇到了极大的挑战，而目前的行业上似乎并未出现技术过人的测试模组，既能够有较高的平均寿命，又能保持稳定的测试性能。目前的技术迟迟没有得到改革创新，沿用的仍然是旧材料制作方式。然而在最近，鸿怡电子创新研发了一款大电流BTB/FPC弹片微针模组blade pin，技术创新，领先于同行，具有出色的性能表现。为什么说这款大电流BTB/FPC弹片微针模组b; 阅读（648）标签：

[行业资讯]IC测试（Wafer Level）知多少……2018年10月10日 09:46: DFT设计是芯片设计过程中很重要的一个环节，其目的是为Wafer Level test提供高效快速的测试方法。Wafer Level test要测哪些内容呢，下面逐一展开描述。 Function Test（功能测试）芯片在生产制造过程中会引入各种故障，通常会引起功能的失效。这些失效包括Stuck-at Fault，Open Fault，Bridge Fault等。 Stuck-At Op; 阅读（987）标签：

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