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鸿怡测试座采用进口玻铜材料
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鸿怡 QFN32芯片测试座详细信息/Detailed Information

鸿怡 QFN32芯片测试座

1 采用手动翻盖式结构,操作方便;
2 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
3 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试准确率高;
4 采用浮板结构,对于IC有球无球都能测;
5 探针可更换,维修方便,成本底;
6 绝缘材料:Torlon、PEI、PEEK、PPS、FR4;
7 最小可做到的测试间距pitch=0.25mm;
8 测试频率可达9.3GHz;
9 用途:集成电路应用功能验证测试;
10 可根据用户要求定做各种阵列的自动/手
订购热线:13631538587
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产品参数 /Parameter
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产品名称 QFN32芯片测试座
材质 PES,PEI
导电体 镀金探针
触点压力 30-50g Per Pin
接触阻抗 30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial)
耐电压 1MinuteATAC700
绝缘电阻 1000 MΩ  Min,At DC 500V
额定电流 2 A
机械寿命 150,000 ~ 200,000 Times (Mechanical)
工作温度 From -40℃ to + 155℃

产品型号 /Model
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产品编号 产品型号 产品名称 引脚数
70B0000002B QFN32 QFN32芯片测试座 32

采购:鸿怡 QFN32芯片测试座

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