鸿怡 QFN32芯片测试座

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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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鸿怡 QFN32芯片测试座详细信息/Detailed Information

鸿怡 QFN32芯片测试座

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鸿怡 QFN32芯片测试座

1 采用手动翻盖式结构,操作方便；
2 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；
3 高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位精确，测试准确率高；
4 采用浮板结构，对于IC有球无球都能测；
5 探针可更换，维修方便，成本底；
6 绝缘材料：Torlon、PEI、PEEK、PPS、FR4；
7 最小可做到的测试间距pitch=0.25mm；
8 测试频率可达9.3GHz；
9 用途：集成电路应用功能验证测试；
10 可根据用户要求定做各种阵列的自动/手

订购热线：13631538587

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产品详情

产品参数 /Parameter
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产品名称	QFN32芯片测试座
材质	PES,PEI
导电体	镀金探针
触点压力	30-50g Per Pin
接触阻抗	30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial)
耐电压	1MinuteATAC700
绝缘电阻	1000 MΩ Min,At DC 500V
额定电流	2 A
机械寿命	150,000 ~ 200,000 Times (Mechanical)
工作温度	From -40℃ to + 155℃

产品型号 /Model
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产品编号	产品型号	产品名称	引脚数
70B0000002B	QFN32	QFN32芯片测试座	32

QFN32芯片测试座

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