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SOT23-5-0.95下压探针老化测试座
SOT23-5-0.95下压探针测试座SOT23-5-0.95老化座尺寸1.6*3mm 厂家
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SOT23-6-0.95下压探针老化测试座
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3225晶振测试老化座-四pin
Open-top结构采用双触点技术,接触更稳定
测试座外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性好
镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度
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SOP24-1.27下压弹片老化座 300mil
工厂直销店铺,品质优良!
SOP24(28)-1.27老化座大量现货当天发!
【本款老化座适配IC规格:SOP封装、24脚、引脚间距1.27mm、芯片本体(不含引脚)宽度7.5mm(300mil)】
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LGA52-1.0下压弹片转DIP48芯片测试座
LGA52下压弹片转dip48测试座 LGA52烧录座转TSOP48编程座 测试架
探针可更换可维修,寿命长,兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸
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LGA52翻盖探针转DIP48芯片测试编程座
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BGA64-1.0翻盖弹片IC老化测试座
深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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BGA272-0.8翻盖双面弹芯片老化座测试座
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EMMC153/169安卓字库数据恢复测试座套装
这款产品可以支持eMMC169/153字库的数据恢复(通讯录、照片、视频、短信、App等),也支持读写,镜像,魅族解锁,字库拆下无需植球,放上就能识别,座子稳定可靠!
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eMMC153/169 EMCP162/186eMCP221翻盖探针三合一转SD测试座
※ 采用标准SD接口模式,通过读卡器与电脑连接或通过编程器SD接口连接实现测试或烧录等相应操作;
※ 兼容有球无球测试,IC限位框采用模具一体成型,可根据IC选择不同大小限位框进行更换,实现不同;
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大小SD卡金点转DIP48翻盖探针测试座
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
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