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产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;
上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽...
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二十余年专业定制各种非标封装测试座烧录座夹具socket
来图定制、一件起订
结构:翻盖式
材质:铝合金、KEEP、镀金探针
寿命:10W+
温度:-55℃-155℃@1000h
应用:烧录、编程、测试、...
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BGA63弹片老化座 bga63封装IC 测试座 数据恢复工具 BGA63测试座
本款下压老化座适配BGA封装63PIN的芯片
适配尺寸10.5mm*13.5mm\9mm*11mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BG...
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[新闻中心]加快半导体IC/芯片测试座国产替代:鸿怡电子技术突破与应用实践
2025年04月16日 11:23
随着全球半导体产业链竞争加剧,半导体芯片测试座、集成电路IC测试座、IC老化座、IC烧录座等关键设备的国产替代已成为保障产业链安全与自主可控的核心任务。当前,国产测试设备厂商如鸿怡电子(HMILU)通过技术创新与市场拓展,逐步打破国际巨头的垄断,并在汽车电子、5G通信、AI芯片等领域展现出显著竞争力。本文结合国产替代趋势与技术实践,系统解析测试座的核心技术、应用场景及国产化突破路径。 一、核心测试设备的定义与功能 1.芯片测试座(Test Socket) 定义:用于连接
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[新闻中心]鸿怡电子声学芯片测试解决方案:行业关键应用到芯片功能测试、老化测试座
2024年11月27日 11:17
声学类音频和音波芯片正逐步成为推动技术进步的重要力量。它们不仅在消费电子领域发挥着至关重要的作用,而且在各种专业音响设备中也被广泛应用。本文将深入解析声学类芯片的工作原理、BGA封装形式的独特优点,以及测试中的关键环节与芯片测试座的重要作用。 声学类音频芯片的工作原理 声学芯片主要用于处理与声音相关的信号,它们可以接收、放大、转换和输出声音信号,应用在从简单的音频放大器到复杂的音频处理器的各种设备中。声学芯片通常由数个敏感组件及电路构成,包括麦克风阵列、数模转换器(DAC)
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[新闻中心]芯片测试座:探索芯片的性能极限,确保测试过程的稳定性和可靠性
2024年06月18日 15:12
超频,这个在计算机硬件爱好者中耳熟能详的术语,指的是通过软件或硬件手段提高电脑硬件设备(如CPU、GPU等)的运行频率,使其超出制造商设定的标准频率。这不仅是一种技术,更是一种艺术,它能够显著提升硬件的性能,但同时也伴随着风险和挑战。 超频是一种通过软件或硬件手段提高电脑硬件(如中央处理器CPU或图形处理器GPU)运行频率的方法,使其超出制造商设定的标准频率,以提高性能。根据鸿怡电子芯片测试座工程师介绍:超频通常由个人电脑爱好者进行,他们可能购买低阶装置并超频至高阶装置的水平
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[新闻中心]鸿怡电子电源芯片测试座工程师:一款高效稳定的电源芯片测试解决方案:LTM4624(BGA25pin)电压转换器芯片测试解析
2024年05月22日 11:52
LTM4624电压转换器芯片是一款高效稳定的电源解决方案,具有广泛的应用场景和独特的功能优势。根据鸿怡电子电源芯片测试座工程师介绍:无论在通讯设备、工控设备、智能家居还是医疗设备领域,LTM4624电压转换器芯片都能够提供稳定可靠的电源支持,确保设备的正常运行和长久稳定的性能。 1、LTM4624电压转换器芯片采用了先进的设计和制造工艺,确保了其高效稳定的性能。它具有较高的转换效率和较低的能量损耗,能够有效地提供稳定可靠的电源供应。此外,它还具有很高的电源噪声抑制能力,能够
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[新闻中心]鸿怡电子芯片测试座:球状引脚栅格阵列BGA封装芯片测试,BGA芯片测试座
2024年01月15日 11:48
BGA (Ball Grid Array) -球状引脚栅格阵列封装技术,高密度表面装配封装技术。在封装底部,引脚都成球状并排列成一个类似于格子的图案,由此命名为BGA。主板控制芯片组多采用此类封装技术,材料多为陶瓷。采用BGA技术封装的内存,可以使内存在体积不变的情况下,内存容量提高两到三倍,BGA与TSOP相比,具有更小体积,更好的散热性能和电性能。 BGA封装技术使每平方英寸的存储量有了很大提升,采用BGA封装技术的内存产品在相同容量下,体积只有TSOP封装的三分之一;
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[新闻中心]BGA156pin封装芯片探针老化座案例分享-鸿怡电子芯片老化测试!
2023年02月09日 15:27
BGA老化测试座、BGA测试座、BGA烧录座、BGA测试socket 芯片测试 BGA156pin芯片老化座规格参数: 测试芯片封装类型:BGA 测试芯片引脚:156pin 测试芯片引脚间距:0.5mm 芯片尺寸:16×20mm BGA芯片老化测试座 BGA芯片老化测试要求: 测试频率:小于200Mhz 测试温度:-40~+155 老化测试时长:5000小时 测试电流:300mA 老化座材料:塑胶 老化座结构:翻盖式 BGA156pin芯片老化测试座
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