- [鸿怡动态]鸿怡电子新品推荐-适用于大阵列的BGA老化测试座2022年07月16日 09:44
- ? 新品上架 ? 为应对市面上越来越多的大阵列,多球数的BGA芯片的老化测试,传统的探针测试座价格往往非常昂贵。以致于客户在考虑成本预算后,不得不另外采用更麻烦但却成本相对简单的方式测试。 针对这一痛点,鸿怡电子的工程师,研发了针对大阵列的BGA芯片所用的老化、测试座。 该产品可以很好的应对各种pitch和尺寸的芯片,并且针对BGA芯片功耗高,也有更好的散热作用。 BGA测试座,可支持Pitch:0.65、0.8、1.27mm等大芯片的老化座、测试座
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- [鸿怡动态]鸿怡电子第四代flash芯片BGA152/132测试座全新上市2022年03月02日 09:41
- 2022新年伊始,FLASH芯片市场异常火爆,缺芯短芯现象仍在上演。flash芯片测试座的需求也越来越多,为了迎合市场,给客户带来更低成本,性价比更好的产品。鸿怡电子的研发设计团队不断精溢求精。设计出了新一代的BGA152翻盖探针测试座,新款的产品经过改良,在结构性能上也优于旧款。 产品经过全新设计,相比上一代产品更有稳定性,操作更方便,效率更高。 1.机械测试寿命10万次,相比同类产品具有更高的使用寿命,保修时间一年半。 2.支持有球/无球同测,使用温度-40℃~
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