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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制2.5GHZ-WIFI邮票孔模块测试架治具夹具测试座socket

产品简介：客户提供产品底板拆装而成
1、应用：2.5GZH-WiFi邮票孔模块，44PIN
2、射频要求：2.5GHZ，回损-15db，插损-db
3、电流：1A以内
4、温度：常温环境
5、寿命：10W+
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: 半定制BGA49翻盖弹片老化座测试座夹具治具socket

产品简介：非标BGA49芯片老化测试座，采用我司现有塑胶外壳及核心弹片胶芯半定制而成
socket本体：PEI+PEEK
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5KG min ，PI...
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: 定制非标PEI塑胶探针老化夹具治具治具测试座socket

产品简介：开模注塑外壳，核心部分通过CNC加工的方式定制各种非标老化测试座。
适配芯片尺寸：小于6*8mm
座子外形尺寸：12*18mm
耐温范围：-40℃~125℃，相对湿度小于85% 更多 +

: WiFi模块2.5GHZ射频测试座夹具治具socket带热沉散热

产品简介：2.5GHZ-WiFi邮票孔模块测试座
性能参数：
1、频率：2.5GH@1db，回损-15db；
2、温度85℃
3、电流1A以内，底部热沉焊盘加铜块散热
4、接触方式：pogoPI...
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: 定制QFN24翻盖塑胶探针测试座烧录夹具治具

塑胶探针测试座
1、工作温度：-40℃~125℃@3000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：PEI、PPS；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni；
4、单PIN额定电压&电流：...
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: 定制QFN64-0.5-9x9 合金旋钮翻盖测试座测试夹具治具

翻盖探针合金测试座
测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳...
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: 定制BGA676-1.0测试治具测试架夹具socket测试座

测试架（夹具）特点：
①翻盖旋钮结构，压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式，相比同类更多 +

: 定制QFP100-0.5 14x14合金翻盖旋钮测试治具测试架治具

QFP芯片测试架简介：
产品简介：
用途：在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架类型：翻盖旋...
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: 全新UFS153转USB3.0测试座 SM3350主控153芯片烧录测试老化SOCKET

产品名称：UFS153转USB3.0测试座
适配芯片规格：ufs153ball 间距0.5mm 尺寸11.5*13mm
测试座用途：对UFS芯片进行读写，测试更多 +

: 定制QFN12翻盖探针测试座夹具治具socket编程插座读写转换座

测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作...
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: 定制邮票孔模块探针测试座夹具治具烧录socket

测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座...
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: 定制QFN32-4x4合金下压探针烧录座夹具治具socket

测试座（夹具）特点：
①下压（按压式结构），适配于自动化设备气缸、机械手使用，大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用...
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: KIT自动化测试socket探针BGA221测试座治具夹具适合机械手适用

产品简介：ATE自动设备测试socket
接触材质：pogoPIN
外壳材质：PEEK陶瓷
频率：2.5GHZ
机械寿命：10W+
额定电流：1A
适用温度：-55~155℃
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: 新开模塑胶旋钮高温探针老化座夹具治具socket BGA225

产品简介：适用于大阵列多PIN数的芯片低成本老化，外壳采用PEI注塑成型，可以长期在高温高湿环境下对芯片进行老化测试。
特性：
1、老化温度：-40℃~125℃；
2、针板材质：...
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: 邮票孔模块测试座夹具治具烧录架socket

测试座（夹具）特点：
①翻盖旋钮结构，压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式，相比同类更多 +

: 邮票孔模块测试座夹具治具工装测试架

产品简介：
①翻盖旋钮结构，压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与...
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: PGA24测试夹具PGA插座老化治具SOKCET拔插插座卡座转换座

产品简介：PGA封装器件探针测试夹具
1、工作温度：-55℃~155℃@5000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni（鍍金3μ",鎳...
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: LGA4-1.65x2.05-0.98 SMD测试座夹具读写编程转换座烧录治具socket

1、工作温度：-40℃~125℃@1000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：PEI、PPS；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni（鍍金3μ",鎳底50~100μ"）；
4、单PIN额定电压&电流：直流12V&1.0A；
...
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: BGA291eSSD颗粒芯片EMMC芯片测试座读写夹具治具烧录socket

产品简介：新型SSD颗粒封装形式，BGA291ball，测试座仅引出174ball进行读写测试。 1：材质：铝合金、PEEK、PEI 2：接触材质：镀镍金铍铜弹片针 3：最高写速度...
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: 定制手自一体CQFP132-0.635探针测试座夹具治具socket

1、工作温度：-55℃~155℃@3000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni（鍍金3μ",鎳底50~100μ"）；
4、单PIN额定电压&电流：直流12V&1.0A；
...
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