- [行业资讯]芯片设计公司怎么充分利用IC测试量产数据？2018年09月20日 17:16
- 鸿怡电子可提供定制各类的IC测试治具，广泛应用于ODM/半导体FAE部门的IC验证，希望以后能够有机会在这方面能有更进一步的探讨和说明,给广大国内设计公司一些更具体的建议和帮助！
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- [鸿怡动态]鸿怡电子IC测试座测试探针的特性？2018年09月18日 17:57
- 大家都知道测试探针是IC测试座的重要部件之一，那么它有什么特性呢?下面我们一起来了解一下。 鸿怡电子生产、定制的IC测试座产品，根据探针针头的结构不同，大多采用两种结构的探针,一种是尖头探针，大多用于QFN/QFP/LGA等封装的芯片，可以直接扎在焊盘上。另外一种为爪头探针，适用于BGA类似的球状焊盘点上。爪头包裹住芯片的锡球，使其更良好的接触。 微型双头测试弹簧探针：可减少待测器件上测试球的共面性。适用IC间距：从0.3毫米到1.27毫米 测试弹簧探针长度短 减少电容、电感
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- [鸿怡动态]IC测试治具在探针的选择上要考虑哪些重要因素？2018年09月14日 17:42
- 探针的存在在ic测试socket中充当着重要的角色，因此在定制IC测试治具时对于探针的选型就更应该慎之又慎。这也是为什么，当客户在咨询定制IC测试治具时，我们的销售人员要向您了解更详细的测试要求。
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- [鸿怡动态]如何对IC测试座、测试治具进行清理？2018年09月13日 16:00
- 经常有客户反馈，使用IC测试座一段时间后，探针尖端会残留一些锡渣或灰尘，导致测试不稳定。 遇到这种问题，您可以使用防静电刷，浸入无水酒精，然后轻轻刷上探针以去除残留物。 如有必要，可以使用风枪吹IC测试座探头针区域，这样效果更好;
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- [鸿怡动态]FPC测试夹产品介绍2018年09月06日 17:27
- 鸿怡电子根据客户要求生产了一款FPC测试夹（见下图），此FPC测试夹有14个针脚，针脚间距1.0mm，头部尺寸为15mm，尾部尺寸为50.5mm。尾部接触T816110A1S102CEU接口、FPC排线可以测试显示屏。
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- [行业资讯]接触阻抗的大小影响因素2018年09月04日 16:05
- 经常，有客户在选择鸿怡电子的IC测试座时，会问到测试座的接触阻抗问题，那么，接触阻抗的大小到底跟哪些因素有关呢？
下面，就让鸿怡电子的工程师为大家来解惑！
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- [鸿怡动态]DDR4 SDRAM内存颗粒导电胶测试治具的首次研发2018年09月03日 17:15
- 不管，国产的DDR4芯片是否已经量产，鸿怡电子的DDR4内存颗料测试夹具已经蓄势待发中。新的DDR44内存条测试夹具采用新的导电胶结构，测试更加的稳定。采用DDR4内存条公板，可兼容多个品牌型号的DDR4颗料。
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- [鸿怡动态]BTB/FPC微针模组测试治具2018年08月29日 15:07
- 以上FPC功能测试整体解决方案由深圳市鸿怡电子有限公司提供，希望对大家有所帮助.
邮箱：liu@hydz999.com 欢迎发送您的FPC/connector参数，由我公司专业的工程技术人员为您评估报价！
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- [行业资讯]鸿怡电子告诉您，什么是测试探针?2018年08月28日 15:37
- 鸿怡电子拥有多年的IC测试座、测试治具设计研发生产经验，所有的探针均采用国外进口品牌。保证客户的测试更加精准，稳定。测试治具的寿命也更长！
欢迎来电咨询！
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- [鸿怡动态]为什么要用到IC测试治具呢？2018年08月24日 15:37
- 目前也有一些专用的测试仪器来检验IC的好坏，但这样的仪器比较昂贵，而且后续测试时，每一款IC还要匹配同款的IC测试座，成本很高。对一般企业来说承受不起这样昂贵的费用。而我们制作的IC测试治具呢，不仅成本低、交期短、测试结果更加的直观可靠。
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- [行业资讯]SIP封装芯片的主推及SIP老化座产品2018年08月21日 16:59
- 近年来，芯片复杂度和集成度在逐渐攀升，高集成度芯片让IC测试项目变得更加复杂，SiP等新封装形式也需要用新的测试手段来应对 。为了保证芯片性能的可靠性，封测厂商往往会在对芯片进行长时间的老化测试，而此也会用到大量的SIP老化座产品。
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- [鸿怡动态]SOT和大电流功率封装芯片的IC测座2018年08月17日 17:47
- 鸿怡电子现可提供SOT23-3测试座，SOT23-5测试座，SOT23-6测试座，SOT223测试座，SOT89测试座，D2PA测试座，D2PAK5测试座。
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- [根栏目]SOT和大电流功率封装芯片的IC测座2018年08月17日 17:33
- 鸿怡电子现可提供SOT23-3测试座，SOT23-5测试座，SOT23-6测试座，SOT223测试座，SOT89测试座，D2PA测试座，D2PAK5测试座。
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- [行业资讯]IC老化测试座的清理和保养2018年08月16日 17:28
- IC老化座测试座使用时间长了之后肯定会有一些灰尘和污垢，从而影响客户的测试和老化。那么我们应该如何进行清洁呢？
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- [行业资讯]IC测试不稳定怎么办？2018年08月10日 17:55
- 通常客户在用ATE测试座做IC测试的时候，经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问题，往往是最令人头疼的，但其实只要仔细分析，最终还是能够找到解决方案的。
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- [行业资讯]晶振应用中常见问题及解决方法2018年08月10日 10:54
- 使用我公司生产设计开模的可重复的贴片晶振测试座可大幅度的降低成本，经过不断的开发试验，我司已将治具制作标准化，提高治具的质量。晶振测试座中测试探针及相关材料的选用对测试治具的好坏及成本是非常重要的， 我司探针均采用国外进口品牌，测试更稳定可靠，并且测试寿命也更长。?
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- [鸿怡动态]鸿怡电子向您讲解关于射频IC测试座的知识2018年08月09日 18:13
- 鸿怡电子通过与国内几大射频IC设计公司的多次密切合作，在射频IC测试座、测试治具方面经过多次的研发改良，已经能够满足很好的众多射频IC设计公司的需求，测试座可过高达25G的频率，测试性能稳定可靠。已经成为射频IC厂家的最佳合作伙伴！
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- [行业资讯]简述IC测试的分类2018年08月09日 14:57
- IC测试一般分为物理性外观测试（Visual Inspecting Test），IC 功能测试（Functional Test）, 化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation）， 可焊性测试（Solderbility Test）， 直流参数（电性能）测试（Electrical Test）, 不损伤内部 连线测试（X-Ray）， 放射线物质环保标准测试（Rohs）以及 失效分析（FA）验证测试。
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