您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座,终身技术支持保修
当前位置:首页 » 鸿怡电子产品中心 » 老化测试座 » BGA老化座 » BGA96pin-0.8mm单面弹老化测试座(C形针)

BGA96pin-0.8mm单面弹老化测试座(C形针)详细信息/Detailed Information

BGA96pin-0.8mm单面弹老化测试座(C形针)

BGA芯片老化测试座规格参数
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:13×7.5mm
订购热线:13631538587
立即咨询

鸿怡电子生产的BGA96pin-0.8mm单面弹老化测试座(C形针)的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍


产品简介

A、产品用途:编程座、测试座,对BGA96的IC芯片进行老化、测试

B、适用封装:BGA96引脚间距0.8mm

C、老化座结构:下压式

D、特点:采用C形针,接触更稳定,寿命长

E、工作温度:-55℃~150℃    电流:1A max

F、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD


BGA96pin芯片老化夹具

芯片老化测试夹具

IC老化座

BGA芯片老炼座




采购:BGA96pin-0.8mm单面弹老化测试座(C形针)

  • *联系人:
  • *手机:
  • 公司名称:
  • 邮箱:
  • 您是从哪里找到我们的:
  • *采购意向:
  • *验证码:验证码

跟此产品相关的产品 / Related Products

DFN8pin-1.27mm-3.8x3.8mm一拖四工位塑胶翻盖式芯片老化测试座
DFN8pin-1.27mm-3.8x3.8mm一拖四工位塑胶翻盖式芯片老化测试座
DFN8pin芯片老练夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片/器件封装形式:DFN
芯片引脚:8pin
引脚中心间距:1.27mm
适配芯片尺寸:3.8*3.8mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式-一拖四工位
老化座材料:PEI+PEEK
QFN48pin-0.5mm-7x7mm合金探针芯片老化测试座socket
QFN48pin-0.5mm-7x7mm合金探针芯片老化测试座socket
QFN48pin芯片老练测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:7*7*0.75mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式
老化座材料:合金+PEEK
BGA121pin-0.65mm-8x8mm塑胶翻盖式芯片烧录座
BGA121pin-0.65mm-8x8mm塑胶翻盖式芯片烧录座
BGA121pin芯片编程烧录座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:121pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:8*8mm
接触介质:探针
烧录座结构:翻盖式
烧录座材料:PEI+PEEK

相关资讯

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

DDR测试夹具

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(Adapter)

IC老化板解决方案

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座(自动机台适用)

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

半导体探针卡/垂直探针卡

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳市宝安区西乡大道288号宝源华丰总部经济大厦A座1108室