您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座耐高低温、抗老化、寿命长,世界500强企业指定供应商。
当前位置首页 » 鸿怡电子新闻中心 » 新闻中心 » 行业资讯 » 展望新的一年IC测试治具的发展趋势

展望新的一年IC测试治具的发展趋势

返回列表 来源:鸿怡电子 查看手机网址
扫一扫!展望新的一年IC测试治具的发展趋势扫一扫!
浏览:- 发布日期:2018-10-26 16:52:15【

IC测试治具在市场上的发展趋势是怎样的呢?下面我们一起来了解一下。

IC测试是整个IC设计、流片、应用过程中不可或缺的一环,采用各类专业的IC burn-in/test socket、测试治具等工具可帮助厂商大幅节省测试成本,且测试结果直观可靠。

在今年的IIC展上,鸿怡电子向客户重点展示的是eMMC测试治具、基于U盘FLASH万能通用测试架,以及内存/显存芯片测试治具、DDR内存条测试治具、用于FPC的BTB测试座等,通过专业化设计,帮助厂商提升测试的精确度,节约更高的成本。

IC测试治具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使IC和PCB之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,其中DDR系列采用现热门的导电胶设计,故最高频率可达2800MHz。

BCM-bga516测试治具


推荐阅读

    【本文标签】:定制IC测试座 ic测试治具.BGA测试治具 芯片封装测试
    【责任编辑】:鸿怡电子版权所有:http://www.hydz999.com转载请注明出处

    鸿怡电子推荐