“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
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IC如何在电路板中高效检测性能？
极快速有效的办法就是定制测试治具、测试架、测试夹具。
如下方所介绍的QFN88-0.4测试治具
如何测试一颗IC的性能最简单最方便的方法就是套用使用该IC的电路板来做成测试夹具，这样就可以高效的测试IC的性能。
有很多人回收物料之后留下成千上万个IC拆机芯片，但是却没办法去确认IC的好坏，其实简单点的就是找到IC的载体（主板），把主板提供给专业生产测试座的厂家来做成测试夹具，通过测试治具来作为一个连接媒介，无需重复焊接，损伤芯片就可以达到检测芯片功能好坏的目的。
以上治具更是广泛应用于DDR、EMMC芯片的检测中。
下面给大家分享一个案例：
客户是需要测试他应用系统上面的QFN88-0.4芯片
一、客户IC的规格尺寸为：
QFN 封装 88PIN；尺寸 10*10mm；间距0.4mm；温度常温；频率 800MHZ；电流500mA以内；
二、具体要求：
1：中心大焊盘需要加接地针；
2：刷卡区标识刷卡区文字以及方框，保证刷卡正常；
3：使用USB接口为电源接口、LED 开关作为开机键，添加500mA量程电流表；
4：红外接收器改到顶层且需要镂空裸露，确保正常收发信号；
成品展示：
使用效果展示
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