您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座耐高低温、抗老化、寿命长,世界500强企业指定供应商。
当前位置首页 » 鸿怡电子新闻中心 » 新闻中心 » 鸿怡动态 » DDR开短路测试治具

DDR开短路测试治具

返回列表 来源:鸿怡电子 查看手机网址
扫一扫!DDR开短路测试治具扫一扫!
浏览:- 发布日期:2018-11-22 18:14:50【

为大家介绍一款用于DDR3芯片的开短路测试治具.

首先,它适配的芯片规格如下,可供参考:

1、DDR3×8 78 Ball  pitch:0.8

2、频率F:超过2800Mhz

3、适用于:三星、海力士、华邦、镁光等各类内存颗粒

开短路测试治具的材料与特性如下:

1、Socket材料:PES、PEI

2、探针:

        材料:

        针管:磷铜

        针头:铍铜

        弹簧:琴钢丝

        电气性能:

        额定电流:1.5A

        接触阻抗:50 mohm(最大工作行程状态下)

        机械性能:

        压力:28g±20%(工作行程内)

        测试寿命:10 万次

 开短路测试治具特点:

结构全新设计,相比于之前的旧式结构造型美观,携带轻巧方便,布局更加紧凑,符合人机操作。
采用手动翻盖式结构,操作方便,测试效率高;
常规采用转接板+SOCKET的结构,可以有效减少对于客户PCB的损伤,同时使结构标准化,可以提高产品的稳定性。
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,生产效率高;
采用浮板结构,对于IC有球无球都能测试
探针材料:铍铜镀金(标准)
探针可更换,维修方便,成本低。
绝缘材料: FR4
采用指针电流表,快速判定IC内部是否短路,及是否存在过流现象;

DDR3开短路测试治具

深圳市鸿怡电子有限公司-----定制各种DDR/GDDR/LPDDR测试治具(最少间距可做到0.25mm,可根据客户提供的PCB板单独设计)
 

推荐阅读

    【本文标签】:DDR测试治具 内存颗粒测试治具 DDR内存条测试夹具
    【责任编辑】:鸿怡电子版权所有:http://www.hydz999.com转载请注明出处

    鸿怡电子推荐