IC测试座,老化座,芯片测试治具,弹片微针模组,大电流弹片微针模组

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2418-12

IC测试座/测试治具维护说明 HMILU-深圳市鸿怡电子有限公司 ——测试座/测试治具使用、维护说明目录—— 一、测试座/测试治具结构爆炸示意图二、标准测试流程三、有球测试和无球测试的区别四、P...
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2118-12

IC测试中用到的ATE测试设备有哪些？ 根据被测的器件类型不同，IC测试可分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。其中，数字电路测试是IC测试的基础，除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外，现代电子系...
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2018-12

IC测试治具的类型 IC测试治具的测试一般可分为哪几种类型？下面跟随小编一起来里了解一下吧。 IC测试治具的测试可分为物理性外观测试、IC功能测试、化学腐蚀开盖测试、可焊性测试、直流参数（电性能）测试、不损...
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1918-12

论半导体芯片的五种”死亡方式“ 随着科学技术的发展，尤其是电子技术的更新换代，对电子设备所用的元器件的质量要求越来越高，半导体器件的广泛使用，其寿命经过性能退化，最终导致失效。有很大一部分的电子元器件在极端温度和...
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1718-12

5G时代来临，UFS3.0和LPDDR5将面临怎样的挑站？ 5G时代来临，存储技术以及其相关产业链如存储芯片的测试,LPDDR测试治具，UFS芯片测试治具等等，都将面临新的挑站。日前，第三届高通骁龙技术峰会上，高通宣布新一代旗舰处理器骁龙855正式亮相，...
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1318-12

GDDR6即将推出 GDDR6内存颗料即将推出。 GDDR6内存颗料测试座和测试夹具即将推出。根据国外媒体“AnandTech”的报道，显卡存储器的发展在人工智能和自动驾驶汽车需求日益增长的情况下变得越来越活跃...