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» 搜索:sop测试座
SOP16pin-1.27mm下压老化座
SOP16pin芯片老化座规格参数
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:1.27mm
芯片本体尺寸:4.4mm
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OTS-16-1.27-04下压老化座 本体4.4mm宽
新品SOP16封装4.4mm本体宽老化夹具
OTS-16-1.27-04下压老化座
适配IC:≤16PIN,1.27间距,本体宽4.4mm
材质:PEI
镀金弹片针
耐温:-40℃~125℃
机械寿命1.5W+
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OTS-16-1.27(2.54)-04下压弹跳座老化夹具老炼治具测试烧录socket
特点:
采用双触点技术,接触稳定;
座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性号、寿命长
镀金层加厚,触点加厚电镀,接触稳定超低接触阻抗、抗氧化程度...
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陶瓷封装CSSOP20-0.65探针塑胶翻盖老化座测试socket夹具
产品简介:CSOP陶瓷封装老化座夹具,非标采用pogoPIN定制。
产品特性:
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:FR4;外壳材质:PEI、PPS;
3、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
4、耐...
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SOP16(28)-1.27高低温老化夹具 老化座 测试座 烧录读写编程座
产品性能
材质
(1) 绝缘体 PEI、PPS
(2) 弹片, 铍铜Be Cu Gold plating(30μ) Over Nickel plating(50μ)
规格尺寸
(1) 型号: SOP16(28)-1.27
(2)引脚间距:1.27
...
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SOP44-1.27 老化座 夹具 烧录座 弹跳编程座 转换DIP插座
OP44-1.27下压弹片老化座 测试座 烧录座
型号:SOP44-1.27下压式
脚位:44pin
间距:1.27mm
尺寸:28.2*16mm(525mil);
芯片本体宽13.3mm(不含脚)
适用封装:sop/psop/soic
...
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定制陶瓷壳体CSOP8老化座2.54间距测试座夹具烧录编程治具
合金探针老化座:
1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流...
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定制SOP8-1.27合金旋钮双扣测试座(标准的小八脚)
产品名称:定制SOP8非标手自一体式探针测试socket
适配尺寸:适用封装SOP,8脚,间距1.27mm 本体宽3.9mm
产品介绍:手自一体的探针式结构,可用于自动机台的ATE测试
性能参数:频率1.5GHZ, 电流小于...
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定制陶瓷封装SSOP20-0.65_5.5×6.6塑胶翻盖测试座
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定制SOP84-0.8(36×13.5)翻盖旋钮探针老化座
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定制SOP24-0.4(4.4×5mm)翻盖探针测试座
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定制SOP8-2.53_9.7×10.7合金翻盖探针测试座
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定制SOP8-1.27下压弹片老化座(ANDK)
更多 +
定制SOP8-1.27-11.5×7.5测试座SOP8非标宽体测试座夹具弹跳座
测试座(夹具)特点:
①测试座根据非标SOP宽体封装设计,能满足多种不同本体宽的芯片需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触...
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定制 非标SOP24-1.27-OTNHPGH 测试座夹具 socket 治具 弹跳座
根据客户的非标需求,使用我司ANDK标准SOP系列切割改动而成
沿用镀金弹片夹式与IC引脚接触,接触稳定、损伤少、良率高
采用与PCB焊接的链接方式,接触阻抗更低
采用耐高温工程塑胶材料,适用于老化湿...
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SSOP48-0.5-5.5×12.8测试座
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定制SOP8-2.53_9.7×10.7合金翻盖探针测试座
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定制CSOP8-1.27(本体尺寸10.3×7.7)翻盖探针测试座
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MSOP8适配器SSOP8清空座IC测试座下压弹片老化座芯片烧写座编程器
一手货源!厂家直销:大量批发:100%全新Socket镀金双接触点弹跳座! MSOP10-0.5下压弹片烧录座、老化座 规格尺寸:引脚间距0.5mm,芯片本体(不含引脚)宽度3mm
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SSOP14(28)-0.65下压弹片IC烧录座 测试座
本款烧录座适配SSOP/TSSOP封装、14脚、引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm的芯片
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